Broadside Tests for Transition and Stuck-At Faults
Broadside Tests for Transition and Stuck-At Faults
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针对过渡和固定故障的全面测试
DOI：
10.1109/tcad.2019.2935046
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发表时间：
2020
影响因子：
2.9
通讯作者：
Pomeranz, Irith
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pomeranz, Irith
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用于启用慢速扫描的轮班启动延迟测试的扫描单元设计
影响因子：
1.2
作者：
Gefu Xu;A. Singh
通讯作者：
A. Singh
DOI：
10.1109/tvlsi.2018.2854704
发表时间：
2018
期刊：
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI
影响因子：
--
作者：
Pomeranz, Irith
通讯作者：
Pomeranz, Irith
通过跨多个故障模型的动态模式混合有效的测试数据缩减技术
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Srinivasulu Alampally;R. Venkatesh;Priyadharshini Shanmugasundaram;R. Parekhji;V. Agrawal
通讯作者：
V. Agrawal
基于扫描的 BIST 结构的多周期测试和部分观察
DOI：
10.1109/ats.2011.34
发表时间：
2011
期刊：
2011 Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Yasuo Sato;Hisato Yamaguchi;Makoto Matsuzono;S. Kajihara
通讯作者：
S. Kajihara
利用浪费的时钟周期：通过扫描移位捕获增强偶然单元感知故障检测
DOI：
10.1109/test.2016.7805828
发表时间：
2016
期刊：
2016 IEEE International Test Conference (ITC)
影响因子：
--
作者：
Fanchen Zhang;D. Hwong;Yi Sun;Allison Garcia;Soha Alhelaly;G. Shofner;L. Winemberg;Jennifer Dworak
通讯作者：
Jennifer Dworak