Skewed-Load Tests for Transition and Stuck-at Faults
Skewed-Load Tests for Transition and Stuck-at Faults
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针对过渡和固定故障的斜负载测试
DOI:
10.1109/tcad.2018.2873233
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发表时间:
2019
影响因子:
2.9
通讯作者:
Pomeranz, Irith
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Pomeranz, Irith
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影响因子:
1.2
作者:
Gefu Xu;A. Singh
通讯作者:
A. Singh
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子:
--
作者:
I. Pomeranz
通讯作者:
I. Pomeranz
DOI:
--
发表时间:
2011
期刊:
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子:
--
作者:
Srinivasulu Alampally;R. Venkatesh;Priyadharshini Shanmugasundaram;R. Parekhji;V. Agrawal
通讯作者:
V. Agrawal
DOI:
--
发表时间:
2016
期刊:
International Test Conference
影响因子:
--
作者:
Cheng;Kuen
通讯作者:
Kuen
DOI:
--
发表时间:
1992
期刊:
IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design
影响因子:
--
作者:
L. Reddy;I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者:
S. Reddy