Direct Fabrication of Uniform and High Density Sub-10-nm Etching Mask Using Ferritin Molecules on Si and GaAs Surface for Actual Quantum-Dot Superlattice
Direct Fabrication of Uniform and High Density Sub-10-nm Etching Mask Using Ferritin Molecules on Si and GaAs Surface for Actual Quantum-Dot Superlattice
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使用 Si 和 GaAs 表面上的铁蛋白分子直接制造均匀、高密度的亚 10 nm 蚀刻掩模,用于实际的量子点超晶格
DOI:
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发表时间:
2011
影响因子:
2.3
通讯作者:
and S. Samukawa
中科院分区:
文献类型:
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作者:
M. Igarashi;R. Tsukamoto;C.-H. Huang;I. Yamashita;and S. Samukawa
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影响因子:
2.9
作者:
Samukawa, S;Sakamoto, K;Ichiki, K
通讯作者:
Ichiki, K
影响因子:
4
作者:
ARAKAWA, Y;SAKAKI, H
通讯作者:
SAKAKI, H
影响因子:
1.5
作者:
Masahiro Yonemoto;T. Ikoma;Keisuke Sano;K. Endo;T. Matsukawa;M. Masahara;S. Samukawa
通讯作者:
S. Samukawa
影响因子:
1.4
作者:
Z. Lu;B. Bryskiewicz;J. McCaffrey;Z. Wasilewski;M. J. Graham
通讯作者:
M. J. Graham
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1.5
作者:
Chi;M. Igarashi;M. Woné;Y. Uraoka;T. Fuyuki;M. Takeguchi;I. Yamashita;S. Samukawa
通讯作者:
S. Samukawa