Power Supply Noise-Aware At-Speed Delay Fault Testing of Monolithic 3-D ICs
Power Supply Noise-Aware At-Speed Delay Fault Testing of Monolithic 3-D ICs
复制标题
单片 3D IC 的电源噪声感知全速延迟故障测试
DOI：
10.1109/tvlsi.2021.3108787
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Chakrabarty, Krishnendu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hung, Shao-Chun;Lu, Yi-Chen;Lim, Sung Kyu;Chakrabarty, Krishnendu
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通讯作者：
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通讯作者：
S. Lim