The Fractional-N all digital frequency locked loop with robustness for PVT variation and its application for the microcontroller unit
The Fractional-N all digital frequency locked loop with robustness for PVT variation and its application for the microcontroller unit
复制标题
具有PVT变化鲁棒性的分数N全数字锁频环及其在微控制器中的应用
DOI:
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发表时间:
2021
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
and Yuichi Sekiya
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Ryoichi Miyauchi;Akio Yoshida;Shuya Nakano;Hiroki Tamura;Koichi Tanno;Yutaka Fukuchi;Yukio Kawamura;Yuki Kodama;and Yuichi Sekiya
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DOI:
10.1049/iet-cds.2013.0175
发表时间:
2014
期刊:
IET Circuits Devices Syst.
影响因子:
--
作者:
S. Yuwono;Seok;Gi;Han;Sang
通讯作者:
Sang
DOI:
10.1109/smicnd.2017.8101214
发表时间:
2017
期刊:
2017 International Semiconductor Conference (CAS)
影响因子:
--
作者:
E. Szopos;I. Saracut;B. Kirei;Marina Dana Topa
通讯作者:
Marina Dana Topa
DOI:
10.1109/ismvl.2017.45
发表时间:
2017
期刊:
2017 IEEE 47th International Symposium on Multiple-Valued Logic (ISMVL)
影响因子:
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作者:
Katsuhiko Shimabukuro;M. Kameyama
通讯作者:
M. Kameyama
DOI:
10.1109/rfic.2010.5477249
发表时间:
2010
期刊:
2010 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium
影响因子:
--
作者:
S. Shashidharan;W. Khalil;S. Chakraborty;S. Kiaei;T. Copani;B. Bakkaloglu
通讯作者:
B. Bakkaloglu
DOI:
10.1587/transele.e101.c.187
发表时间:
2018
期刊:
IEICE Trans. Electron.
影响因子:
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作者:
Hanli Liu;T. Siriburanon;K. Nakata;W. Deng;J. Son;D. Lee;K. Okada;A. Matsuzawa
通讯作者:
A. Matsuzawa