Statistical Method to Extract Radiation-Induced Multiple-Cell Upsets in SRAM-Based FPGAs
Statistical Method to Extract Radiation-Induced Multiple-Cell Upsets in SRAM-Based FPGAs
复制标题
在基于 SRAM 的 FPGA 中提取辐射引起的多单元扰动的统计方法
DOI：
10.1109/tns.2019.2955006
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发表时间：
2020
影响因子：
1.8
通讯作者：
Wirthlin, Michael J.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Perez-Celis, Andres;Wirthlin, Michael J.
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DOI：
10.1109/relphy.2006.251220
发表时间：
2006-03
期刊：
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
影响因子：
--
作者：
N. Seifert;P. Slankard;M. Kirsch;B. Narasimham;V. Zia;C. Brookreson;A. Vo;S. Mitra;B. Gill;J. Maiz
通讯作者：
N. Seifert;P. Slankard;M. Kirsch;B. Narasimham;V. Zia;C. Brookreson;A. Vo;S. Mitra;B. Gill;J. Maiz
消除部署在 SRAM FPGA 上的 TMR 设计中的共模故障的策略
影响因子：
1.8
作者：
Cannon, Matthew J.;Keller, Andrew M.;Rowberry, Hayden C.;Thurlow, Corbin A.;Perez-Celis, Andres;Wirthlin, Michael J.
通讯作者：
Wirthlin, Michael J.
移动激光点，而不是 DUT：研究在大型现代 IC 上本地化 SEE 站点的新微镜功能和挑战
DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems
影响因子：
--
作者：
M. Cannon;Andrés Pérez;G. Swift;R. Wong;S. Wen;M. Wirthlin
通讯作者：
M. Wirthlin
触发器电路中辐射效应分析和缓解的系统设计方法
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI
影响因子：
--
作者：
L. Clark;Sandeep Shambhulingaiah
通讯作者：
Sandeep Shambhulingaiah
影响因子：
1.8
作者：
M. Ceschia;M. Violante;M. Sonza-Reorda;A. Paccagnella;P. Bernardi;M. Rebaudengo;D. Bortolato;M. Bellato;P. Zambolin;A. Candelori
通讯作者：
M. Ceschia;M. Violante;M. Sonza-Reorda;A. Paccagnella;P. Bernardi;M. Rebaudengo;D. Bortolato;M. Bellato;P. Zambolin;A. Candelori