Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope
Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope
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用于扫描透射电子显微镜的超高真空三阶球差 (Cs) 校正器
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
古屋一夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
三石和貴;竹口雅樹;近藤行人;細川史夫;三宮工;古屋一夫
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发表时间：
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期刊：
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影响因子：
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作者：
M. V. D. Stam;M. Stekelenburg;B. Freitag;D. Hubert;J. Ringnalda
通讯作者：
J. Ringnalda
球面像差校正 TEM 和 STEM 的实验评估。
DOI：
10.1093/jmicro/dfi001
发表时间：
2005
期刊：
Journal of electron microscopy
影响因子：
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作者：
H. Sawada;T. Tomita;M. Naruse;T. Honda;Paul Hambridge;P. Hartel;M. Haider;C. Hetherington;R. Doole;A. Kirkland;J. Hutchison;J. Titchmarsh;D. Cockayne
通讯作者：
D. Cockayne
高分辨率、高速超高真空显微镜
DOI：
10.1116/1.1786304
发表时间：
2004
期刊：
Journal of Vacuum Science and Technology
影响因子：
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作者：
H. Poppa
通讯作者：
H. Poppa
新研制的超高真空场发射透射电子显微镜对沉积在Si(111)薄膜上的Mo纳米晶的表面观察
影响因子：
2.1
作者：
Miyoko Tanaka;K. Furuya;M. Takeguchi;T. Honda
通讯作者：
T. Honda
IBM STEM 仪器中的像差校正结果。
影响因子：
2.2
作者：
P. Batson
通讯作者：
P. Batson