Transmission Surface Diffraction for Operando Studies of Heterogeneous Interfaces.
Transmission Surface Diffraction for Operando Studies of Heterogeneous Interfaces.
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用于异质界面操作研究的透射表面衍射
DOI：
10.1021/acs.jpclett.7b00332
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
O.M. Magnussen
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
F. Reikowski;T. Wiegmann;J. Stettner;J. Drnec;V. Honkimäki;F. Maroun;P. Allongue;O.M. Magnussen
材料与液体或高压气体的界面处的过程通常涉及微米尺度上不均匀的结构变化。我们提出了一种新颖的原位 X 射线散射技术，该技术使用高能光子和透射几何结构在这些条件下进行原子尺度研究。透射表面衍射可以在单次采集中获得大部分倒易空间，从而可以直接对界面处的面内原子排列进行成像。使用聚焦 X 射线束进行的实验能够以微米空间分辨率绘制这些结构特性。通过电化学表面相变和沉积过程的原位研究说明了这项新技术的潜力。
Processes at material interfaces to liquids or to high-pressure gases often involve structural changes that are heterogeneous on the micrometer scale. We present a novel in situ X-ray scattering technique that uses high-energy photons and a transmission geometry for atomic-scale studies under these conditions. Transmission surface diffraction gives access to a large fraction of reciprocal space in a single acquisition, allowing direct imaging of the in-plane atomic arrangement at the interface. Experiments with focused X-ray beams enable mapping of these structural properties with micrometer spatial resolution. The potential of this new technique is illustrated by in situ studies of electrochemical surface phase transitions and deposition processes.
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