Controlling impurity-induced disordering via mask strain for high-performance vertical-cavity surface-emitting lasers

Controlling impurity-induced disordering via mask strain for high-performance vertical-cavity surface-emitting lasers
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通过高性能垂直腔表面发射激光器的掩模应变控制杂质引起的无序

DOI:
--
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发表时间:
2018
期刊:
2018 International Conference on Compound Semiconductor Manufacturing Technology
影响因子:
--
通讯作者:
Dallesasse, J. M.
Dallesasse, J. M.
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Su, P.;O’Brien, T.;Hsiao, F. C.;Dallesasse, J. M.

文献摘要

参考文献

被引文献

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作者:
Dallesasse, John M.;Deppe, Dennis G.
通讯作者: Deppe, Dennis G.