Reliability Analysis of a Delay-Locked Loop Under HCI and BTI Degradation
Reliability Analysis of a Delay-Locked Loop Under HCI and BTI Degradation
复制标题
HCI 和 BTI 退化下延迟锁相环的可靠性分析
DOI：
10.1109/irps.2019.8720447
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Sapatnekar, Sachin S.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Dhar, Tonmoy;Sapatnekar, Sachin S.
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