Wafer-Scale Method of Controlling Impurity-Induced Disordering for Optical Mode Engineering in High-Performance VCSELs
Wafer-Scale Method of Controlling Impurity-Induced Disordering for Optical Mode Engineering in High-Performance VCSELs
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控制高性能 VCSEL 光模工程中杂质引起的无序的晶圆级方法
DOI：
10.1109/tsm.2018.2866065
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发表时间：
2018
影响因子：
2.7
通讯作者：
Dallesasse, John M.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Su, Patrick;Hsiao, Fu-Chen;O'Brien, Thomas;Dallesasse, John M.
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Zn 开管扩散到 AlGaAs 和 GaAs 中
DOI：
--
发表时间：
1983
期刊：
影响因子：
--
作者：
Y.;K. Eda;G. A. Vawter;J. Merz
通讯作者：
J. Merz
具有杂质引起的无序的 VCSEL 的模式行为
影响因子：
2.6
作者：
T. O’Brien;B. Kesler;Saoud Al Mulla;J. Dallesasse
通讯作者：
J. Dallesasse
高速锌扩散单模垂直腔面发射激光器电光频率响应中的阻尼最小化
影响因子：
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作者：
Jin;L.;C. Chen;Y. Wu;Shi;Ying
通讯作者：
Ying
通过高性能垂直腔表面发射激光器的掩模应变控制杂质引起的无序
DOI：
--
发表时间：
2018
期刊：
2018 International Conference on Compound Semiconductor Manufacturing Technology
影响因子：
--
作者：
Su, P.;O’Brien, T.;Hsiao, F. C.;Dallesasse, J. M.
通讯作者：
Dallesasse, J. M.
影响因子：
20.6
作者：
Dallesasse, John M.;Deppe, Dennis G.
通讯作者：
Deppe, Dennis G.