Test Cost Reduction for Logic Circuits -Reduction of test data volume and testing time-
Test Cost Reduction for Logic Circuits -Reduction of test data volume and testing time-
复制标题
降低逻辑电路的测试成本 -减少测试数据量和测试时间-
DOI：
--
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Y.Higami
中科院分区：
文献类型：
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作者：
新谷道広;市原英行;越智正邦;井上智生;樋上喜信;Y.Higami
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ID̳D̳Q̳测试简介
DOI：
--
发表时间：
1997
期刊：
影响因子：
--
作者：
J. Iles;Maria Stokes;A. Young
通讯作者：
A. Young
DOI：
10.1109/vts.2002.1011119
发表时间：
2002-04
期刊：
Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002)
影响因子：
--
作者：
S. Reddy;K. Miyase;S. Kajihara;I. Pomeranz
通讯作者：
S. Reddy;K. Miyase;S. Kajihara;I. Pomeranz
压缩 ATPG 生成的时序电路测试序列
DOI：
10.1109/iccad.1988.122533
发表时间：
1988
期刊：
[1988] IEEE International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD-89) Digest of Technical Papers
影响因子：
--
作者：
R. Roy;T.M. Niermann;J. Patel;J. Abraham;R. Saleh
通讯作者：
R. Saleh
I/sub DDQ/测试下桥接故障的紧凑测试生成
DOI：
10.1109/vtest.1995.512654
发表时间：
1995
期刊：
Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
R. S. Reddy;I. Pomeranz;S. Reddy;S. Kajihara
通讯作者：
S. Kajihara
用于内置自测试的测试宽度压缩
DOI：
10.1109/test.1997.639634
发表时间：
1997
期刊：
Proceedings International Test Conference 1997
影响因子：
--
作者：
K. Chakrabarty;Jian Liu;Minyao Zhu;B. Murray
通讯作者：
B. Murray