Characterization of Semiconductor Clusters by Four-Wave Mixing and Scanning

通过四波混合和扫描表征半导体簇

基本信息

  • 批准号:
    8617911
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 27万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    美国
  • 项目类别:
    Continuing Grant
  • 财政年份:
    1987
  • 资助国家:
    美国
  • 起止时间:
    1987-05-01 至 1990-10-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

As lightwave technology further develops it is anticipated that microscopic phenomena will become more important in the development of new optical devices. The inherent capacity for reducing the size of optical devices is considerable and this is one area in which the potential has not yet begun to be realized, although some initial effort is evident. As dimensions shrink the ability to design and manipulate relevant physical phenomena will become increasingly important. The tools by which this will be done will probably involve electron microscopes as well as x-rays, sychrotron radiation, and other potential sources. Tunneling microscopy appears to be one important aspect of such a thrust. Its ability to portray microscopic behavior particularly of surfaces, to portray electronic behavior, and to generally monitor crystalline structure offers one possibility. The combination of lightwave technology with the field of scanning electron microscopy in a study of nonlinear optical materials and in particular the small dimensional structures discussed in the proposal, are timely and can be expected to lead to fruitful investigations and the development of techniques of future importance to future applications of optics. A 3-year continuing award is recommended for the amounts shown: 1987 - $90,000 1988 - $90,000 1989 - $90,000
随着光波技术的进一步发展,可以预见微观现象在新型光学器件的开发中将变得更加重要。缩小光学设备尺寸的固有能力是相当大的,这是一个潜力尚未开始实现的领域,尽管一些初步努力是显而易见的。随着维度的缩小,设计和操纵相关物理现象的能力将变得越来越重要。完成这项工作的工具可能包括电子显微镜、x射线、同步辐射和其他潜在的光源。隧道显微镜似乎是这种推力的一个重要方面。它能够描绘微观行为,特别是表面的微观行为,描绘电子行为,以及通常监测晶体结构,这提供了一种可能性。将光波技术与扫描电子显微镜相结合,用于研究非线性光学材料,特别是本论文所讨论的小维结构;是及时的,可以预期导致卓有成效的研究和技术的发展,对未来的光学应用具有重要意义。建议对所列数额给予连续三年的奖励:1987年- $90 000 1988年- $90 000 1989年- $90 000

项目成果

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