Engineering Research Equipment Grant: Supporting Equipment for Scanning Tip Microscopy

工程研究设备补助金:扫描尖端显微镜配套设备

基本信息

  • 批准号:
    8906893
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 5万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    美国
  • 项目类别:
    Standard Grant
  • 财政年份:
    1989
  • 资助国家:
    美国
  • 起止时间:
    1989-08-15 至 1991-01-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

A scanning tip microscopy laboratory has been established at the Optical Sciences Center, University of Arizona, which aims to characterize isolated semiconductor clusters used for nonlinear optics interactions. The characterization facility is a crucial link between fabrication and application groups working in the field of lightwave technology, because it makes possible tailoring the fabricated media to the applications requirements. The laboratory capabilities include scanning tunneling microscopy (STM), scanning force microscopy (SFM), and near-field scanning optical microscopy (NSOM). Acquisition of several pieces of equipment would enhance these capabilities. 1. General purpose: a spectrum analyzer is needed to monitor the acoustical and mechanical noise that exists during the interaction of the tip and sample. A single spectrum analyzer will serve six different ongoing experimental efforts. 2. UHV-STM: a Knudsen source is needed for semiconductor fabrication, a magnetic rotary drive to transport samples, and a LEED and Auger for surface analysis. 3. Sputtering gun and power supply. 4. Molecular Modeling Computer.
亚利桑那大学光学科学中心建立了一个扫描针尖显微镜实验室,旨在表征用于非线性光学相互作用的孤立半导体团簇。表征设备是光波技术领域的制造和应用小组之间的关键纽带,因为它使制作的介质可以根据应用的要求进行定制。实验室能力包括扫描隧道显微镜(STM)、扫描力显微镜(SFM)和近场扫描光学显微镜(NSOM)。购买几件设备将增强这些能力。1.一般用途:需要一个频谱分析仪来监测针尖与样品相互作用过程中存在的声学和机械噪声。一台频谱分析仪将服务于六种不同的正在进行的实验工作。2.超高真空扫描隧道显微镜:半导体制造需要一个努森源,需要一个磁旋转驱动器来运送样品,需要一个LEED和俄歇电子能谱仪来进行表面分析。3.溅射枪和电源。4.分子建模计算机。

项目成果

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    2007
  • 资助金额:
    $ 5万
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    Research Grant
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  • 批准号:
    BB/E013244/1
  • 财政年份:
    2007
  • 资助金额:
    $ 5万
  • 项目类别:
    Research Grant
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