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Metastabile, reduzierte Übergangsmetalldichalkogenide M1+xQ2 via topotaktischer Deintercalation aus gemischten Ionen- und Elektronenleitern vom Typ M'yM1+xQ2

通过拓扑脱嵌从 MyM1 xQ2 类型的混合离子和电子导体中获得亚稳态还原过渡金属二硫属化物 M1 xQ2

基本信息

批准号：
143670722
负责人：
Professor Dr. Bernd Harbrecht
金额：
--
依托单位：
Fachbereich 15: Chemie
依托单位国家：
德国
项目类别：
Priority Programmes
财政年份：
2009
资助国家：
德国
起止时间：
2008-12-31 至 2013-12-31
项目状态：
已结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/143670722?language=en
关键词：
Metastabile reduzierte bergangsmetalldichalkogenide M1+xQ2 via

项目摘要

Ausgehend von schichtartig aufgebauten, ternären Münzmetall-Übergangsmetall-Dichalkogeniden vom Typ M'yM1+xQ2 (M' = Cu, Ag; M = Gruppe 5, X = S, Se) werden über topotaktische Oxidation der Wirtsstruktur durch chemische und elektrochemische Deintercalation metastabile Polytype von reduzierten Dichalkogeniden M1+xQ2 erschlossen und hinsichtlich ihrer Zusammensetzungen, Strukturen und Ladungstransporteigenschaften untersucht. Die Zielphasen unterscheiden sich von den bekannten Polytypen dadurch, dass die zusätzlich eingelagerten M-Atome nicht in jedem Zwischenschichtbereich der MQ2-Teilstruktur eingebaut sind. Ternäre Ausgangsverbindungen sind bei den Sulfiden nachweislich durch Umsetzung der Elemente zugänglich. Insbesondere wollen wir uns auf die Herstellung und Charakterisierung von solchen reduzierten Dichalkogeniden höherer Stufe konzentrieren, die bei der Deintercalation über vermutlich räumlich korreliert verlaufende Partialversetzungen die Stapelabfolge der MQ2-Schichtpakete ändern. Die elektronischen Faktoren, welche die durch die Oxidation hervorgerufenen Umwandlungen treiben, wollen wir aus detaillierten Einkristall-Strukturanalysen und in angestrebter Kooperation mit Theoretikern aufklären. Den Nachweis, dass die reduzierten Dichalkogenide metastabil sind, hoffen wir über die Auswertung kombinierter DTA/XRD-Experimente erbringen zu können. Einkristallstrukturanalysen bei tiefen Temperaturen und die Messung der Elektronentransporteigenschaften in Abhängigkeit von der Temperatur werden zeigen, ob die bei einzelnen Phasen bereits detektierten komplexen Überstrukturen auf die Ausordnung von Leerstellen oder auf eingerastete Ladungsdichtewellen zurückzuführen sind.

通过对M 'yM 1 + xQ 2（M' = Cu，Ag; M = Gruppe 5，X = S，Se）型金属双金属化合物的化学和电化学脱嵌亚稳多型氧化还原，使M1+ xQ 2型金属双金属化合物发生化学氧化和脱嵌亚稳多型氧化还原。Zielphasen unterscheiden sich von den bekannten Polytypen dadvert，dass die zusätzlich eingelagerten M-Atome nicht in jedem Zwischenschichtbereich der MQ2-Teilstruktur eingebaut sind. Ternäre Ausgangsverbindungen sind bei den Sulfiden nachweislich durch Umsetzung der Elemente zugänglich.因此，我们将通过降低Dichalkogeniden höherer Stufe konzentrieren的应力和特性，在脱嵌过程中，将残余应力降低到MQ 2-Schichtpakete ändern的部分应力。对于电子元件，我们将通过详细的结构分析和理论分析来确定氧化过程中产生的影响。因此，我们可以通过DTA/XRD-Experimente的联合测试来确定还原的二硫键化合物的亚稳定性。在韦尔登测量中，温度和电子传输测量的关系是一个基本的结构分析，在一个相位上，可以确定复杂的结构，如从Leerstellen的Ausordnung或从一个单独的Ladungssteltewellen zurückzuführen。