Rastersondenmikroskop

扫描探针显微镜

• 批准号: 176001701
• 金额: --
• 依托单位: Universität Augsburg
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2009-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/176001701?language=en
• 关键词: Rastersondenmikroskop

Für die von den Antragstellern durchgeführten und geplanten Projekte, wie z.B. der Untersuchung von Fasermaterialien, Faserverbundwerkstoffen und photovoltaischen Zellen, ist die Analyse der Topographie von Oberflächen sowie die Untersuchung der mikromechanischen und thermischen Eigenschaften mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich erforderlich. Die notwendigen Spezifikationen sind durch die Vereinigung von Rasterkraftmikroskopie zur Topographiebestimmung, HarmoniX Modul für die Messung des E-Modul, Scanning Thermal Microscopy (SThM) und nanoTA zur Analyse von thermischer Leitfähigkeit und Glas- bzw. Schmelztemperaturen sowie Nanoindentation zur Härtemessung in einem Gerät erreichbar. Die Bestimmung der beschriebenen Größen ist an ein und derselben Stelle der Probe möglich. Auch eine Kartographierung der Eigenschaften kann durchgeführt werden, je nach verwendetem Messmodul mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich (AFM, HarmoniX) bzw. im sub 100nm-Bereich (nanoTA, SThM, Indenter).

Für die von den Antragstellern durchgeführten und geplanten Projekte，wie z.B.对激光材料、激光焊接材料和激光成像Zellen的研究，是通过对上表面形貌的分析，来研究微机械和热效应的特征，并在此基础上进行了一次横向测量。这种特殊的光谱是通过Rasterkraftmikroskopie Vereinigung zur Topographiebestimmung、HarmoniX Modul für die Messung des E-Modul、扫描热显微镜（SThM）和nanoTA zur Analyse von thermischer Leitfähigkeit und Glas- bzw实现的。Schmelztemperaturen sowie Nanoindentation zur Härtemesung in einem Gerät erreichbar. Bestimmung der beschriebenen Größen is an ein und derselben Stelle der Probe möglich.也可以通过韦尔登来绘制特征图，我还可以使用带有横向Auflösung（AFM，HarmoniX）bzw的Messmodul。im sub 100nm-Bereich（nanoTA、SThM、Indenter）。