Rastersondenmikroskop

毛死冯窝Antragstellern durchgefuhrten和geplanten Projekte,是不是如der Untersuchung冯·Fasermaterialien Faserverbundwerkstoffen和photovoltaischen Zellen,是分析der Topographie冯Oberflachen和港口死Untersuchung der mikromechanischen和thermischen Eigenschaften麻省理工学院静脉lateralen Auflosung im nm-Bereich erforderlich。Die not endigen Spezifikationen and durch Die Vereinigung von rasterkraftmicroskopie zur toplograpeestiming， HarmoniX模组分析，Die Messung des e模组，扫描热显微镜（SThM）和纳米晶体分析，von thermischer Leitfähigkeit and glass - bzw。纳米压痕zur Härtemessung在einem Gerät erreichbar中的应用。Die bestimung der beschriebenen Größen ist and ein und derselben stele der Probe möglich。每一个kartographerung der Eigenschaften kann durchgefhrt werden，每一个verwendetem messmodule mit iner lateralen Auflösung in nm-Bereich (AFM, HarmoniX) bzw。在100nm- berich以下（nanoTA, SThM，压头）。

Für die von den Antragstellern durchgeführten und geplanten Projekte, wie z.B. der Untersuchung von Fasermaterialien, Faserverbundwerkstoffen und photovoltaischen Zellen, ist die Analyse der Topographie von Oberflächen sowie die Untersuchung der mikromechanischen und thermischen Eigenschaften mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich erforderlich. Die notwendigen Spezifikationen sind durch die Vereinigung von Rasterkraftmikroskopie zur Topographiebestimmung, HarmoniX Modul für die Messung des E-Modul, Scanning Thermal Microscopy (SThM) und nanoTA zur Analyse von thermischer Leitfähigkeit und Glas- bzw. Schmelztemperaturen sowie Nanoindentation zur Härtemessung in einem Gerät erreichbar. Die Bestimmung der beschriebenen Größen ist an ein und derselben Stelle der Probe möglich. Auch eine Kartographierung der Eigenschaften kann durchgeführt werden, je nach verwendetem Messmodul mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich (AFM, HarmoniX) bzw. im sub 100nm-Bereich (nanoTA, SThM, Indenter).