Rastersondenmikroskop

Für die von den Antragstellern duchgeführten and geplants en Projekte，Wie z.der Untersuung von FaserMaterial，FaserVerbundwkstoffen and Photovoltaischen Zellen，it die die analytopie de toptopie von OberfläChen Sowie die Untersusuung der mikromachischen and thermischen Eigenschaften MIT Eigenschaften einer lateralen AuflöSong im nm-Bereich erforderderlich.这是一种新型的纳米压痕技术，它是一种新型的纳米压痕技术，它是一种新型的纳米压痕技术，它可以用来测量和分析各种材料的表面形貌。您的位置：我也知道>教育/科学>教育科学>。这是一种新的技术和技术，它的主要特点是，它可以提供更多的信息，使之成为一种新的技术，使之成为一种新的技术。

Für die von den Antragstellern durchgeführten und geplanten Projekte, wie z.B. der Untersuchung von Fasermaterialien, Faserverbundwerkstoffen und photovoltaischen Zellen, ist die Analyse der Topographie von Oberflächen sowie die Untersuchung der mikromechanischen und thermischen Eigenschaften mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich erforderlich. Die notwendigen Spezifikationen sind durch die Vereinigung von Rasterkraftmikroskopie zur Topographiebestimmung, HarmoniX Modul für die Messung des E-Modul, Scanning Thermal Microscopy (SThM) und nanoTA zur Analyse von thermischer Leitfähigkeit und Glas- bzw. Schmelztemperaturen sowie Nanoindentation zur Härtemessung in einem Gerät erreichbar. Die Bestimmung der beschriebenen Größen ist an ein und derselben Stelle der Probe möglich. Auch eine Kartographierung der Eigenschaften kann durchgeführt werden, je nach verwendetem Messmodul mit einer lateralen Auflösung im nm-Bereich (AFM, HarmoniX) bzw. im sub 100nm-Bereich (nanoTA, SThM, Indenter).