Rastersondenmikroskop

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Wissen über Eigenschaften und das Verhalten von Strukturen aus Molekülen und Nanoteilchen ist grundlegend für Entwicklungen in Nano-Elektronik und Katalyse. In der neu eingerichteten Arbeitsgruppe Oberflächen- und Grenzflächenphysik werden solchen hybriden Systeme, präpariert, strukturiert, und charakterisiert. Methodisch stehen Rastersonden-Methoden wie Rastertunnelmikroskopie und Kraftmikroskopie bei variabler Temperatur bzw. für spezielle Umgebungen, im Vordergrund. Das Zurückführen von elektronischen Signaturen auf der Nanometerskala auf spezielle Mechanismen und Strukturen bleibt eine Herausforderung. Hier sind Experimente in Ultrahochvakuum-Umgebung und die sogenannte korrelative Mikroskopie gefragt, bei der verschiedene Informationskanäle (z. B. Morphologie und Oberflächenpotential) simultan erfasst und korreliert werden können. Zunehmend wird es wichtiger, in situ in das System eingreifen zu können, z. B. durch Nanomanipulation und Temperaturveränderung. So können nano-elektronische Übergänge und Prozesse an spezifische Strukturelemente geknüpft werden und die Natur der Phänomene aufgeklärt werden. Für diese Untersuchungen wird das hier beantragte variable Temperatur-Rastersondenmikroskop benötigt. Das Gerät bildet auch eine wichtige Grundlage für Zusammenarbeiten im SFB 652 und im Department Life, Light, Matter.