Rastersondenmikroskop

扫描探针显微镜

• 批准号: 183300158
• 金额: --
• 依托单位: Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2009-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/183300158?language=en
• 关键词: Rastersondenmikroskop

Die Oberfläche von Werkstoffen ist die Grenzfläche zur Umgebung, mit der ein Werkstoff wechselwirkt. Die statische Charakterisierung von Werkstoffoberflächen und die dynamische Erfassung chemischer und physikalischer Prozesse auf Werkstoffoberflächen im Größenordnungsbereich von Manometern gewinnen zunehmend an Bedeutung. Nur unter Kenntnis von Struktur und Prozessen dieser Wechselwirkungen ist es möglich, rückkoppelnd zum Herstellungsprozess Oberflächen maßgeschneidert zu gestalten. Das heute wichtigste Verfahren für die Untersuchung der o.g. Wechselwirkungen in Kombination mit einer Bildgebung ist die Rastersondenmikroskopie (SPM). Mit verschiedenen Mess- und Untersuchungsmodi ist es möglich, Oberflächenstrukturen und Oberflächenprozesse mit höchster örtlicher Auflösung zu erfassen. Geräte mit großem Probenbereich erlauben darüber hinaus a) die Charakterisierung größerer Proben und somit die Eliminierung von „Randeffekten" bzw. aufwendige Probenpräparation und b) den Einsatz zusätzlicher Messkammern, z.B. für nasschemische Korrosionsuntersuchungen oder für die Nanoindentation, die modellhaft als korrosionsauslösendes werkstoffschädigendes Verfahren nutzbringend eingesetzt werden kann.

Werkstoffen的Oberfläche是Umgebung的Grenzfläche，带有一个Werkstoff wechselekt。在压力计压力范围内，工作压力的静态特性和工作压力的动态化学和物理过程得到改善。努尔在结构和过程的知识基础上，我们可以通过建立一个更好的框架来实现。今天我们要为我们的客户提供最好的服务。Wechselfenkungen in Combination mit einer Bildgebung ist die Rastersondenmikroskopie（SPM）. Mit versedenen Mess- und Untersuchungsmodi ist es möglich，Oberflächenstrukturen und Oberflächenprozesse mit höchster örtlicher Auflösung zu erfassen. Geräte mit großem Probenbereich erlauben darüber hinaus a）die Charakterisierung größerer Proben und somit die Eliminierung von“Randefekten”bzw. Aufwendige Probenpräparation und B）den Einertizzusätzlicher Messkammern，z.B.为了进行纳米压痕的化学腐蚀或为了进行纳米压痕，模型轴必须具有足够的韦尔登。