Dediziertes Rastersondenmikroskop

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Die Apparatur soll für verschiedene Forschungsvorhaben im Rahmen des Exzellenzclusters, des SFBs 953, der Forschergruppe FOR 1878 und in weiteren Kooperationen innerhalb der FAU eingesetzt werden. Die Anschaffung wird das Methodenarsenal des Lehrstuhls im Bereich der Rastersonden-Mikroskopie deutlich verstärken. Dies ist für die internationale Wettbewerbsfähigkeit im Bereich der Grundlagenforschung für neue Materialien dringend erforderlich; in Anbetracht der zunehmend komplexeren Materialien und Prozesse ist eine Charakterisierung der Grenzflächen und darauf erzeugter Strukturen im Realraum unabdingbar. Mit der neuen Apparatur werden Untersuchungen möglich sein, die hauptsächlich im Bereich der Materialcharakterisierung und der Modifikation von Wachstumsprozessen an Grenzflächen angesiedelt sind. Dazu ist bewusst kein Tieftemperaturmikroskop vorgesehen, sondern ein Instrument, mit dem sowohl mit STM als auch mit AFM ein möglichst großer Temperaturbereich zwischen 120 und 500 K in situ abgedeckt werden kann. An der FAU existiert kein vergleichbares Instrument. Die vorhandenen Apparaturen am Department Physik (AG Maier und AG Schneider) oder am Lehrstuhl des Antragstellers sind entweder Tieftemperatur-Mikroskope (LHe) oder reine STM-Geräte mit stark eingeschränktem Temperaturbereich (minimale Temperatur für in situ Messungen 200 K).