Rastersondenmikroskop

我们的中心是一种新型的纳米结构材料，它是一种新型的材料，也是一种新型的材料，它的主要特点是：从材料的角度，从材料的角度，从材料到材料，再到材料，从材料到材料，再到材料，从材料到材料，再到从材料到材料的过渡。这是一种新的功能，在试验者祖钢的基础上，从100 nm的Skala notwendigi中获得了更多的信息。新的艺术和信息，以及更多的信息，更多的信息，更多更多的信息。DAS Favorisierte系统VERINT ELEKTRISCHE(开尔文探针力显微镜KPFM)和Thermische Raster-Kraft-Mikroskopie(扫描热显微镜SthM)MIT Konfokaler Flureszenz-Spektroskopie and optischer Nahfeld-Mikroskopie(扫描近场光学显微镜SNOM)auf einer Plattform and ERFüllt Daher in Geradezu Idealer Weise die genannten Anforderungen。他说：“这是一件非常重要的事情。

Ein zentrales Merkmal nanostrukturierter Materialien für Anwendungen in der Optoelektronik, Energietechnik oder (Spin-)Elektronik ist das inhärente Auftreten von Grenzflächen, wie z.B. Hetero-Übergänge, Dotierübergänge, Metallkontakte, Partikel-Partikel Grenzfläche etc. Dies hat zur Konsequenz, dass sich die elektronischen, optischen und thermischen Eigenschaften der Materialien und der Bauelemente lokal ändern - auf einer Skala im 10Onm Bereich und darunter. Dadurch werden auf der einen Seite neuartige Funktionalitäten möglich, auf der anderen Seite wird aber ein experimenteller Zugang zu den genannten Eigenschaften auf einer Sub-100nm Skala notwendig. Dies erfordert eine neue Art der Informationsgewinnung, die sich aus einer teilweise gleichzeitigen Verwendung der elektrischen Raster-Kraft-Mikroskopie, der optischen Nahfeld- Mikroskopie und der thermischen Raster-Sondentechnik ergibt. Das favorisierte System vereint elektrische (Kelvin probe force microscopy KPFM) und thermische Raster-Kraft-Mikroskopie (scanning thermal microscopy SThM) mit konfokaler Fluoreszenz-Spektroskopie und optischer Nahfeld-Mikroskopie (scanning near field optical microscopy SNOM) auf einer Plattform und erfüllt daher in geradezu idealer Weise die genannten Anforderungen. Die Beschaffung dieses Gerätes ist Gegenstand dieses Antrages.