Reflektive Optiken für breitbandige photogrammetrische Messsysteme

Konventionelle refraktive（d.h.光学原理是用吸收法测量色差。在摄影测量学中，如果一个人的语言能力很强，那么他就可以减少一般的测量点。Duplex das Design vollreflektiver（d.h. ausschließlich auf Spiegeln basierender）Optiken können diese Abbildungsfehler eliminiert韦尔登. Im Rahmen des Vorhabens soll ein vollreflektives，spektral breitbandiges，hochaufgelöstes，weitwinkliges System für den Einstein in photogrammetrischen Aufgabenstellungen der dimensionellen Metrologie mit hohem und höchstem Genauigkeitsanspruch konzipiert und verifiziert韦尔登.在韦尔登中，使用超精密光学元件的反射光学元件的反射光学元件的新质量。在摄影测量中，利用几何模型的几何特征，通过对Zusatzparameters的非对称性和一个带Ziel的几何元素的分析，建立了一个基于中心透视几何模型的基本模型，并从理想模型和几何模型的角度分析了光学的物理现实。然后用韦尔登方法对模型参数进行估计。

Konventionelle refraktive (d.h. linsen-basierte) Optiken sind prinzipbedingt als Folge der chromatischen Aberration mit Abbildungsfehlern behaftet. In photogrammetrischen Aufgabenstellungen, welche die Abbildung eines breiten Spektralbereichs erfordern, führt dies zwangsläufig zu einer Reduktion des Genauigkeitspotentials. Durch das Design vollreflektiver (d.h. ausschließlich auf Spiegeln basierender) Optiken können diese Abbildungsfehler eliminiert werden. Im Rahmen des Vorhabens soll ein vollreflektives, spektral breitbandiges, hochaufgelöstes, weitwinkliges System für den Einsatz in photogrammetrischen Aufgabenstellungen der dimensionellen Metrologie mit hohem und höchstem Genauigkeitsanspruch konzipiert und verifiziert werden. Durch den Einsatz von abschattungsfreien Spiegelobjektiven mit ultrapräzisionsgefertigten optischen Komponenten soll eine neue Qualität von reflektiven Optiken in diesem Bereich erreicht werden. Für den Einsatz reflektiver Optiken in photogrammetrischen Aufgabenstellungen mit höchstem Genauigkeitsanspruch wird ein auf dem Grundmodell der Zentralperspektive basierendes geometrisches Modell durch spezifische asymmetrisch wirkende Zusatzparameter und einen Finite-Elemente-Ansatz erweitert mit dem Ziel, die Abweichung der physikalischen Realität der Optik vom Idealmodell zu modellieren und das Genauigkeitspotential zu optimieren. Zudem werden Kalibrierschemata zur zuverlässigen Bestimmung der Modellparameter entwickelt.