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SBIR Phase II: An Innovative Method for Removing Resist from Wafers

SBIR Phase II: An Innovative Method for Removing Resist from Wafers
SBIR 第二阶段:一种从晶圆上去除抗蚀剂的创新方法
批准号:
0750623
负责人:
Hang Ji
金额:
$50.0万
依托单位:
依托单位国家:
美国
项目类别:
Standard Grant
财政年份:
2008
资助国家:
美国
项目状态:
已结题
起止时间:
2008-01-01 至 2009-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
小企业创新研究(SBIR)第二阶段项目旨在开发一种创新的、环保的方法来去除半导体晶圆上的抗蚀剂。在每一个光刻步骤和接下来的加工步骤(例如蚀刻或离子注入)之后,必须剥离工艺硬化的抗蚀剂并清洗晶圆片。现有的光刻胶去除方法(等离子灰化和湿式化学剥离)对于当前最先进的互连材料来说过于激进——它们往往会降解和损坏低k介电体并腐蚀铜;它们对脆弱的设备结构也有害。在这个项目中,通过在超纯水中控制微空化,在一个过程步骤中完成抗蚀剂剥离和晶圆清洗,不会损坏底层和特征。抵制剥离是一个不断增长的26.4亿美元的市场。所提出的抗蚀剂去除剂和晶圆清洗剂成功克服了当今IC制造业面临的关键技术障碍。在集成电路制造行业之外,基于微空化的层去除将在需要控制薄膜去除的所有领域得到应用,例如:, MEMS, PCB,光学,汽车(除漆)和航空航天。这将是一种对薄膜加工有用的使能技术。微空化是一种无化学物质、环保的技术。
英文摘要
The Small Business Innovation Research (SBIR) Phase II project seeks to develop an innovative, environment friendly method for removing resist from semiconductor wafers. After every lithography step, and the following processing step, e.g., etching or ion implantation, the process-hardened resist must be stripped away and the wafer cleaned. Existing photoresist removal methods (plasma ashing and wet chemical stripping) are proving too aggressive for current state-of-the-art interconnect materials-they tend to degrade and damage low-k dielectrics and corrode copper; they are also detrimental to the delicate device structures. In this project the resist stripping and wafer cleaning are accomplished in a single process step through controlled microcavitation in ultrapure water with no damage to the underlying layers and features.Resist stripping is a growing $2.64B market. The proposed resist remover and wafer cleaner successfully overcome a critical technological barrier facing the IC manufacturing industry today. Beyond the IC manufacturing industry, the microcavitation based layer removal will find applications in all areas requiring controlled thin film removal,e.g., MEMS, PCB, optics, automotive (paint removal), and aerospace. This will be an enabling technology useful in thin film processing. Microcavitation is a chemical free, environmentally friendly technology.
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会议论文
SBIR Phase II: Clean Tool: A Unified Approach to Wafer Cleaning
  • 批准号:
    1127460
  • 项目类别:
    Standard Grant
  • 资助金额:
    $50.0万
  • 财政年份:
    2011
  • 负责人:
    Hang Ji
  • 依托单位:
SBIR Phase I: Clean Tool: A unified approach to wafer cleaning
  • 批准号:
    0945041
  • 项目类别:
    Standard Grant
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2010
  • 负责人:
    Hang Ji
  • 依托单位:
SBIR Phase I: CMP Slurry Monitor
  • 批准号:
    0740982
  • 项目类别:
    Standard Grant
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2008
  • 负责人:
    Hang Ji
  • 依托单位:
SBIR Phase I: An Innovative Method for Removing Resist from Wafers
  • 批准号:
    0611170
  • 项目类别:
    Standard Grant
  • 资助金额:
    $10.0万
  • 财政年份:
    2006
  • 负责人:
    Hang Ji
  • 依托单位:
国内基金
海外基金
Baryogenesis, Dark Matter and Nanohertz Gravitational Waves from a Dark Supercooled Phase Transition
  • 批准号:
    24ZR1429700
  • 项目类别:
    省市级项目
  • 资助金额:
    --
  • 批准年份:
    2024
  • 负责人:
    YUICHIRO NAKAI
  • 依托单位:
ATLAS实验探测器Phase 2升级
  • 批准号:
    11961141014
  • 项目类别:
    国际(地区)合作与交流项目
  • 资助金额:
    3350万元
  • 批准年份:
    2019
  • 负责人:
    刘衍文
  • 依托单位:
地幔含水相Phase E的温度压力稳定区域与晶体结构研究
  • 批准号:
    41802035
  • 项目类别:
    青年科学基金项目
  • 资助金额:
    12.0万元
  • 批准年份:
    2018
  • 负责人:
    张里
  • 依托单位:
基于数字增强干涉的Phase-OTDR高灵敏度定量测量技术研究