Qualität und Zuverlässigkeit von elektronischen Baugruppen mit erhöhten Anforderungsprofilen (C01)

Das zentrale Ziel dieses Teilprojektes best in der beestimmung der Wirkzusammenhänge von auftretend belastungen and den resultierenden Schädigungsmechanismen bei erhöhten Anforderungen。数据统计学家在数据分析模型中预测数据的准确性，在数据分析模型中预测数据的准确性。Zusätzlich sollen wirkortgerechteAnforderungsprofile sowie profstrategien definient and hand . Testschaltungsträgern beierhöhten thermoechanischen Belastungen and medieninfinveriziert werden。

Das zentrale Ziel dieses Teilprojektes besteht in der Bestimmung der Wirkzusammenhänge von auftretendenBelastungen und den resultierenden Schädigungsmechanismen bei erhöhten Anforderungen.Mit Hilfe statistischer Verfahren soll hierzu ein Korrelationsmodell aufgebaut werden, um durch dieEmpfehlung geeigneter Maßnahmen die Zuverlässigkeit zu verbessern. Zusätzlich sollen wirkortgerechteAnforderungsprofile sowie Prüfstrategien definiert und anhand von Testschaltungsträgern beierhöhten thermomechanischen Belastungen und Medieneinfluss verifiziert werden.