Statistische Testalgorithmen

MIT zunehmender Skalierung Weisen Nano Electrktronische System e ine immer breitere Streuung der参数ihrer Schaltungskomponenten auf.统计分析的方法论和统计分析的方法。在测试算法中，饮酒者Bedarf，Diesen Statischen Anatz Auchin的测试算法einzuführen，da ansonsten die Testätze Net Mehr den gesamten zulässigen参数abdecken。他说：“我不知道怎么回事，我死在了地衣里。”[参考译文][晓雨-0920交稿][晓雨-0920交稿]这是一种典型的统计方法和统计方法。测试算法发现了这样一种特殊的技术，麻省理工学院的纳米电气系统具有很强的自适应能力。统计方法是一种新的统计方法，用于检验罗布斯滕系统的变化。

Mit zunehmender Skalierung weisen nanoelektronische Systeme eine immer breitere Streuung der Parameter ihrer Schaltungskomponenten auf. Aktuelle Entwurfswerkzeuge berücksichtigen die große Varianz durch statistische Methoden wie die statistische Zeitanalyse oder den statistischen Entwurf.Es besteht dringender Bedarf, diesen statistischen Ansatz auch in Testalgorithmen einzuführen, da ansonsten die Testsätze nicht mehr den gesamten zulässigen Parameterraum abdecken. Während bislang für einen angenommen Fehler fester Größe ein Testmuster bestimmt wird, sind bei zunehmender Varianz jetzt oft mehrere Tests erforderlich, die in unterschiedlichen Schaltungen mit unterschiedlichen Parametern diesen Fehler erfassen. Fehlersimulation und Testerzeugung unterliegen somit einem grundsätzlichen Paradigmenwechsel und sind auf statistische Methoden zu erweitern.Die in diesem Vorhaben zu entwickelnden statistischen Testalgorithmen sind auch auf die speziellen Strukturen anzuwenden, mit denen nanoelektronische Systeme durch Selbstkalibrierung und Selbstadaption robust gemacht werden. Ziel des Projekts ist damit die erstmalige Bereitstellung statistischer Methoden für den Test von robusten Systemen mit großer Variation.