Statistische Testalgorithmen

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Mit zunehmender Skalierung weisen nanoelektronische Systeme eine immer breitere Streuung der Parameter ihrer Schaltungskomponenten auf. Aktuelle Entwurfswerkzeuge berücksichtigen die große Varianz durch statistische Methoden wie die statistische Zeitanalyse oder den statistischen Entwurf.Es besteht dringender Bedarf, diesen statistischen Ansatz auch in Testalgorithmen einzuführen, da ansonsten die Testsätze nicht mehr den gesamten zulässigen Parameterraum abdecken. Während bislang für einen angenommen Fehler fester Größe ein Testmuster bestimmt wird, sind bei zunehmender Varianz jetzt oft mehrere Tests erforderlich, die in unterschiedlichen Schaltungen mit unterschiedlichen Parametern diesen Fehler erfassen. Fehlersimulation und Testerzeugung unterliegen somit einem grundsätzlichen Paradigmenwechsel und sind auf statistische Methoden zu erweitern.Die in diesem Vorhaben zu entwickelnden statistischen Testalgorithmen sind auch auf die speziellen Strukturen anzuwenden, mit denen nanoelektronische Systeme durch Selbstkalibrierung und Selbstadaption robust gemacht werden. Ziel des Projekts ist damit die erstmalige Bereitstellung statistischer Methoden für den Test von robusten Systemen mit großer Variation.