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Leistungs- und Energiebeschränkung im Selbsttest

Leistungs- und Energiebeschränkung im Selbsttest
自检中的功率和能量限制
批准号:
5173948
负责人:
Professor Dr. Hans-Joachim Wunderlich
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Priority Programmes
财政年份:
1999
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
1998-12-31 至 2006-12-31

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
这是一种新的测试方法,适用于不同的领域。新技术为“基于核心的设计”集成了系统芯片和zwingt Entwerfer and Vertreiber der Megazellen zumeist,Selbsttest verfahren einzusetzen。Im Vergleich zum Normal betrieb ist die Verlustleistung be der Ausführung des Selbsttest ein Vielfachees Gröbie er,Weil hier alle Alle Teile des Systems möglichst häufig and möglichst Schnell Schalten,während man be einem verlustarmeSystembetrieb möglichst groüe e Bereiche der Schaltung stilLegt.我们使用的是最好的系统,也就是“低功率”--EntwüRFE。这是一个很重要的问题,也是最重要的一个问题,因为它是最重要的。这是一个全新的数字测试系统,MIT denen Verlustleistung and Energieverbrauch während des Testestes bechränkt weden können,ohne die Testzeit wesentlich zu verlängern oder die defekterfassung zu beeinträchtigen。我不知道你的名字是什么意思。爱立信公司、惠普公司和逻辑公司都是爱立信、惠普和逻辑技术的代言人,因此,他们的技术和技术与卫理公会提供的服务是一致的。
英文摘要
Selbsttestverfahren sind in jüngster Zeit zur dominierenden Testmethode für komplexe mikroelektronische Systeme geworden. Die neue Technologie des "Core-based Design" integriert vollständige Systeme auf einem Chip und zwingt Entwerfer und Vertreiber der Megazellen zumeist, Selbsttestverfahren einzusetzen. Im Vergleich zum Normalbetrieb ist die Verlustleistung bei der Ausführung des Selbsttests ein Vielfaches größer, weil hier alle Teile des Systems möglichst häufig und möglichst schnell schalten, während man bei einem verlustarmen Systembetrieb möglichst große Bereiche der Schaltung stillegt. Da wesentliche Teile des Systems wie Stromversorgung und Gehäuse entsprechend der Spitzenleistung ausgelegt werden müssen, beschränkt die Verlustleistung im Selbsttest das Optimierungspotential sogenannter "Low Power"-Entwürfe. Bei mobilen Anwendungen kommt noch hinzu, daß der Test relativ häufig wiederholt wird, und mit dem daraus folgenden hohen Energieverbrauch auch die Lebenszeit der Batterie verkürzt. Ziel des Projekts ist deshalb die Entwicklung von Methoden für den Selbsttest digitaler Systeme, mit denen Verlustleistung und Energieverbrauch während des Tests beschränkt werden können, ohne die Testzeit wesentlich zu verlängern oder die Defekterfassung zu beeinträchtigen. Hierzu sind Arbeiten auf allen Ebenen des Schaltungsentwurfs erforderlich. Die Arbeiten werden von den Firmen Ericsson, Hewlett Packard und LogicVision unterstützt, so daß er erforderliche Zugang zur aktuellen Technologie und die praktische Anwendbarkeit der zu entwickelnden Methoden gesichert sind.
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会议论文
PARSIVAL: Parallel High-Throughput Simulations for Efficient Nanoelectronic Design and Test Validation
  • 批准号:
    256517186
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2014
  • 负责人:
    Professor Dr. Hans-Joachim Wunderlich
  • 依托单位:
Robust ACCESS: Verification, Test, and Diagnosis of Advanced Scan Infrastructures
  • 批准号:
    259255792
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2014
  • 负责人:
    Professor Dr. Hans-Joachim Wunderlich
  • 依托单位:
Statistische Testalgorithmen
  • 批准号:
    22341096
  • 项目类别:
    Research Grants
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2006
  • 负责人:
    Professor Dr. Hans-Joachim Wunderlich
  • 依托单位:
Methoden zur Bewertung und Verbesserung der Zuverlässigkeit informationsverarbeitetender mikroelektronischer Hardware-Komponenten
  • 批准号:
    5354091
  • 项目类别:
    Research Units
  • 资助金额:
    $0.0万
  • 财政年份:
    2002
  • 负责人:
    Professor Dr. Hans-Joachim Wunderlich
  • 依托单位:
海外基金