Methoden zur Bewertung und Verbesserung der Zuverlässigkeit informationsverarbeitetender mikroelektronischer Hardware-Komponenten

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...Die Hardware eingebetteter Systeme wird vermehrt und in naher Zukunft überwiegend als sogenannte "Systems-on-a-Chip" realisiert, bei denen drei wesentlichen Quellen von Systemausfällen zu berücksichtigen sind: - Entwurfsfehler, - im Produktionstest zu findende Fertigungsfehler, - permanente, transiente oder intermittierende Ausfälle im Betrieb. Um bereits zu Beginn des Entwurfs die Erkennung bzw. Tolerierung der erwähnten Fehler zu unterstützen, sollen auf zwei Gebieten Verfahren erarbeitet werden: 1) Entwicklung einer einheitlichen Methode zur Erkennung und Diagnose aller drei Fehlerarten. Die Methode muß auf allen Ebenen des Entwurfs anwendbar sein. 2) Automatischer Entwurf von ausfallsicheren Schaltungen. Die bislang unter schiedlichen, zum Teil widersprüchlichen Verfahren für den Entwurf verifizier barer Schaltungen testbarer und selbsttestbare Schaltungen und fehlertoleranter und on-line testbarer Schaltungen sollen zusammengeführt werden. Die Zuverlässigkeit der so entworfenen Schaltungen soll mit den in 1) entwickelten Verfahren verifiziert werden.