Methoden zur Bewertung und Verbesserung der Zuverlässigkeit informationsverarbeitetender mikroelektronischer Hardware-Komponenten

评估和提高信息处理微电子硬件组件可靠性的方法

• 批准号: 5354091
• 负责人: Professor Dr. Hans-Joachim Wunderlich
• 金额: --
• 依托单位: Institut für Technische Informatik (ITI)
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Research Units
• 财政年份: 2002
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2001-12-31 至 2008-12-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/5354091?language=en
• 关键词: Methoden; zur; Bewertung; und; Verbesserung

...Die Hardware eingebetteter Systeme wird vermehrt und in naher Zukunft überwiegend als sogenannte "Systems-on-a-Chip" realisiert, bei denen drei wesentlichen Quellen von Systemausfällen zu berücksichtigen sind: - Entwurfsfehler, - im Produktionstest zu findende Fertigungsfehler, - permanente, transiente oder intermittierende Ausfälle im Betrieb. Um bereits zu Beginn des Entwurfs die Erkennung bzw. Tolerierung der erwähnten Fehler zu unterstützen, sollen auf zwei Gebieten Verfahren erarbeitet werden: 1) Entwicklung einer einheitlichen Methode zur Erkennung und Diagnose aller drei Fehlerarten. Die Methode muß auf allen Ebenen des Entwurfs anwendbar sein. 2) Automatischer Entwurf von ausfallsicheren Schaltungen. Die bislang unter schiedlichen, zum Teil widersprüchlichen Verfahren für den Entwurf verifizier barer Schaltungen testbarer und selbsttestbare Schaltungen und fehlertoleranter und on-line testbarer Schaltungen sollen zusammengeführt werden. Die Zuverlässigkeit der so entworfenen Schaltungen soll mit den in 1) entwickelten Verfahren verifiziert werden.

．..Die Hardware einge更好的system - end vermehrt und naher Zukunft <e:1> berwiegend als sogenannte "Systems-on-a-Chip" realisient, bedenen drei weentlichen Quellen von Systemausfällen zberkstest zfinende Fertigungsfehler, - producktionstest zfinende Fertigungsfehler, - permanente, transiente oder intertiverende Ausfälle im Betrieb。我们有一个新的开始，我们有一个新的开始。1)研究了一种新的诊断方法，并对其进行了分析和分析。“方法”是一种有效的方法。2) Automatischer Entwurf von ausfallsicheren Schaltungen。Die bislang unter schiedlichen, zum Teil widersprichen Verfahren f<e:1>, zum Teil widersprichen Verfahren f<e:1>, zum tenwurf ververizier barer Schaltungen, Schaltungen, Schaltungen, Schaltungen, Schaltungen, zusammengefhrt werden。Die Zuverlässigkeit der so entworfenen schaltunen soll mit den in 1) entwickelten Verfahren verifiziert werden。