Hochauflösendes Dünnschicht-Röntgendiffraktometer
Hochauflösendes Dünnschicht-Röntgendiffraktometer
批准号:
228716244
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2013
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2012-12-31 至 --
中文摘要
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英文摘要
Moderne und innovative Materialforschung erfordert einen hohen analytischen Standard. Hierbei ist die eindeutige Bestimmung der kristallographischen Identität der hergestellten Materialien unerlässlich, um Struktur-Eigenschafts-Beziehungen aufzuklären, die eine zielgerichtete Entwicklung und Verbesserung der Materialien ermöglichen. Für dieses Ziel werden hochauflösende und leistungsfähige Röntgendiffraktometer benötigt. Zum einen ermöglicht das von der DFG geförderte Dünnschicht¬diffraktometer die Bestimmung der Phasenidentität der mittels moderner Verfahren hergestellten Schichten und die Korrelation mit den beobachteten physikalisch-chemischen Eigenschaften. Zusätzlich bietet die Bestimmung der kristallographischen Orientierung sowie der Verspannungseffekte die Möglichkeit, Prozessparameter bei der Dünnschichtherstellung zu optimieren. Zum anderen können mit dem von der DFG geförderten Röntgenpulverdiffraktometer in Kombination mit einer Reaktionskammer zusätzlich zur routinemäßigen Röntgenanalytik Materialien unter den technisch relevanten Bedingungen getestet werden. Hierbei sind für Energiespeichermaterialien elektrochemische Experimente und für heterogene Katalysatoren die Untersuchung von Gas-Fest-Reaktionen bei definierter Temperatur und unter definierten Gasatmosphäre von besonderem Interesse. Diese Untersuchungen ermöglichen einen tieferen Einblick in die mechanistischen Prozesse bei Elektrodenmaterialien unter den verschiedensten Bedingungen und lassen dadurch eine optimierte Materialentwicklung auf den genannten Anwendungsbereichen zu.
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DOI:
10.1088/0957-4484/27/14/145201
发表时间:
2016-04
期刊:
Nanotechnology
影响因子:
3.5
作者:
[C. Lim;A. Ajay;C. Bougerol;J. Lähnemann;F. Donatini;J. Schörmann;E. Bellet-Amalric;D. Browne;M. Jimenez-Rodriguez;E. Monroy]
通讯作者:
C. Lim;A. Ajay;C. Bougerol;J. Lähnemann;F. Donatini;J. Schörmann;E. Bellet-Amalric;D. Browne;M. Jimenez-Rodriguez;E. Monroy
Screening of the quantum-confined Stark effect in AlN/GaN nanowire superlattices by germanium doping
DOI:
10.1063/1.4868411
发表时间:
2014-03-10
期刊:
APPLIED PHYSICS LETTERS
影响因子:
4
作者:
[Hille, P., Muessener, J., Eickhoff, M.]
通讯作者:
Eickhoff, M.
DOI:
10.1103/physrevb.91.205440
发表时间:
2014-12
期刊:
Physical Review B
影响因子:
3.7
作者:
[M. Beeler;C. Lim;P. Hille;Joël Bleuse;J. Schormann;M. Mata;J. Arbiol;M. Eickhoff;E. Monroy]
通讯作者:
M. Beeler;C. Lim;P. Hille;Joël Bleuse;J. Schormann;M. Mata;J. Arbiol;M. Eickhoff;E. Monroy
Thermomigration and Soret effect in NaxCoO2as thermoelectric material: Preparation and characterization of sodium cobaltate thin films (Phys. Status Solidi A 5/2016)
NaxCoO2as 热电材料中的热迁移和 Soret 效应:钴酸钠薄膜的制备和表征(Phys Status Solidi A 5/2016)
DOI:
10.1002/pssa.201670631
发表时间:
2015
期刊:
Physica Status Solidi (a)
影响因子:
--
作者:
[C. Schneider, P. Schichtel, B. Mogwitz, R. Straubinger, A. Beyer, M. Rohnke, K. Volz, J. Janek]
通讯作者:
J. Janek
DOI:
10.1016/j.jcrysgro.2015.11.041
发表时间:
2016-02-15
期刊:
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH
影响因子:
1.8
作者:
[Kracht, M., Schoermann, J., Eickhoff, M.]
通讯作者:
Eickhoff, M.
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