Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

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„Die Rasterelektronenmikroskopie in Verbindung mit der energiedispersiven Röntgenmikroanalyse (REM/EDX) stellt angesichts des vielfältigen hohen Informationsgehalts und der Anschaulichkeit ihrer Ergebnisse seit Jahren eine Schlüsselmethode der Werkstoffwissenschaften dar. Sie wird vom federführenden Arbeitsgruppenleiter seit Beginn seiner wissenschaftlichen Tätigkeit in der Baustoffforschung und Materialprüfung eingesetzt und ist im Rahmen seiner Forschung unersetzlich. Das ihm zur Verfügung stehende über 20 Jahre alte Rasterelektronenmikroskop ist hinsichtlich seiner Ausstattung inzwischen veraltet und angesichts seiner Störanfälligkeit nicht mehr sinnvoll zu betreiben. Entsprechendes gilt für ein ca. 20 Jahre altes REM des Instituts für Oberflächen- und Dünnschichttechnologie der HS Wismar (IFOD). Das vorhandene moderne, erst vor wenigen Jahren beschaffte, am REM adaptierte EDX-System soll dagegen unter Ersatz des vom Vorgängersystem übernommenen LN2-Detektors durch einen Silicon Drift-Detektor an dem als Ersatzbeschaffungsmaßnahme beantragten REM weitergenutzt werden. Angesichts der gestiegenen Bedeutung nanostrukturierter Stoffe für die Aktivitäten der drei beteiligten Arbeitsgruppen und einem Schwerpunkt bei den mineralischen Stoffen des Bauwesens wird die Beschaffung eines analytischen Feldemissions-REM mit Schottky-Emitter und Low Vacuum-Betriebsmodus beantragt.“