Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDX, EBSD und in situ Nanoindenter

Rastektronenmikroskopie mit ihren verzedenen Kontrastarten，der energiedisperiven Röntgenanalysis（EDX）und Elektronenrückstreubeugung（EBSD），is eine der der der modernen Werkstoffwissenschaft unverzichtbaren Analysetechniken. Hinsichtlich seiner Ortsauflösung nimmt es eine sehr wichtige Zwischenstellung zwischen der optischen Mikroskopie und Transmissionselektronenmikroskopie ein.该方法的主要特点是在原位纳米压痕韦尔登中，通过对Hartstoffen微结构、金属化和陶瓷化材料的微结构分析，对纳米压痕进行测试和分析。Ein Schwerpunkt der Aufgaben ist die Aufnahme player EBSD/EDX-Maps，welche Grundlage für eine Mikrostrukturanalysis im Sinne einer Element- und Phasenvertelung einschließlich Kristallitorientierungsinformation ist. Eine zuverläswestern und zügige Aufnahme solcher Maps wird durch einen hohen Strahlstrom und aufeinander hinsichtlich Effizienz abgestimmter EBSD und EDX-Detektoren sichergestelllt.微结构分析也是通过纳米压痕技术局部分析力学特征的一种方法。Entsprechende Gerätekapazität steht derzeit an der TU Bergakademie弗赖贝格nicht zur Verfügung.

Die Rasterelektronenmikroskopie mit ihren verschiedenen Kontrastarten, der energiedispersiven Röntgenanalyse (EDX) und Elektronenrückstreubeugung (EBSD), ist eine der in der modernen Werkstoffwissenschaft unverzichtbaren Analysetechniken. Hinsichtlich seiner Ortsauflösung nimmt es eine sehr wichtige Zwischenstellung zwischen der optischen Mikroskopie und Transmissionselektronenmikroskopie ein. Das beantragte hochauflösende Feldemissionsrasterelektronenmikroskop soll innerhalb unterschiedlicher Forschungsprojekte einschließlich zweier Sonderforschungsbereiche, insbesondere zur Mikrostrukturanalyse von nichtoxidischen Hartstoffen, metallischen und keramischen Werkstoffen sowie von entsprechenden Kompositen unter Nutzung verschiedener Abbildungs- und Analysemodi einschließlich in situ Nanoindentation verwendet werden. Ein Schwerpunkt der Aufgaben ist die Aufnahme simultaner EBSD/EDX-Maps, welche Grundlage für eine Mikrostrukturanalyse im Sinne einer Element- und Phasenverteilung einschließlich Kristallitorientierungsinformation ist. Eine zuverlässige und zügige Aufnahme solcher Maps wird durch einen hohen Strahlstrom und aufeinander hinsichtlich Effizienz abgestimmter EBSD und EDX-Detektoren sichergestellt. Entsprechende Mikrostrukturanalyse ist auch Vorbedingung zur lokalen Analyse mechanischer Eigenschaften durch Nanoindentation. Entsprechende Gerätekapazität steht derzeit an der TU Bergakademie Freiberg nicht zur Verfügung.