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Hochauflösende Phasenkontrast-Elektronenmikroskopie mit Hilfe einer elektrostatischen Phasenplatte

Hochauflösende Phasenkontrast-Elektronenmikroskopie mit Hilfe einer elektrostatischen Phasenplatte
使用静电相位板的高分辨率相差电子显微镜
批准号:
25473870
负责人:
Professorin Dr. Dagmar Gerthsen
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Research Grants
财政年份:
2006
资助国家:
德国
项目状态:
已结题
起止时间:
2005-12-31 至 2016-12-31

项目摘要

项目成果

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In der Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) sind viele der interessantesten Objekte sogenannte ¿schwache Phasenobjekte¿. Sie sind praktisch transparent für Elektronen und erzeugen Objektkontrast im Bild alleine durch eine geringe Phasenverschiebung der transmittierten Elektronenwelle. Im Allgemeinen erscheinen solche Objekte daher mit sehr geringem Bildkontrast. Eine Möglichkeit zur Realisierung eines stärkeren Objektkontrastes besteht in der Verwendung einer Phasenplatte, welche die relative Phase von gestreuten und ungestreuten Elektronen um 90¿ verschiebt. In der Lichtmikroskopie wird diese Abbildungsart als ¿Phasenkontrast¿-Verfahren bereits seit 1935 angewendet. In der TEM wurden Phasenplatten jedoch auf Grund technischer Probleme bisher kaum untersucht und noch nie in der Forschung eingesetzt. Ein Vorschlag für die Realisierung einer elektrostatischen Phasenplatte geht auf Boersch (1947) zurück. Die Boersch-Phasenplatte beruht darauf, dass die Phase des ungestreuten Zentralstrahls durch das Feld einer elektrostatischen Einzellinse verschoben wird. Dies lässt sich elektronenoptisch am einfachsten in der hinteren Brennebene des Objektivs realisieren. In Vorarbeiten zu diesem Projekt ist es uns gelungen, erstmals eine geeignete elektrostatische Mikrolinse zu bauen und damit die Phase des ungestreuten Zentralstrahls zu beeinflussen. Im Rahmen dieses Projektes soll nun das Design und die Herstellung der Boersch-Phasenplatte mit Hilfe der Nanostrukturierung optimiert und die exakte Justierung im Elektronenmikroskop in Angriff genommen werden. Durch diese Arbeiten wird ein neuer Phasenkontrast-Abbildungsmodus im Transmissions-Elektronenmikroskop realisiert, der in Zukunft eine optimierte Kontrastübertragung bei der Abbildung schwacher Phasenobjekte ermöglicht. Das auf diese Weise verbesserte Signal wird eine Vielzahl von neuen Bildverarbeitungs- und 3D-Rekonstruktionsmöglichkeiten sowohl in der hochauflösenden Kryo-Mikroskopie an nativen biologischen Proben wie auch an materialwissenschaftlichen Proben ermöglichen.
期刊论文(8)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: 10.1017/s1431927612001560
发表时间: 2012-10-01
期刊: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
影响因子: 2.8
作者: [Hettler, Simon, Gamm, Bjoern, Gerthsen, Dagmar]
通讯作者: Gerthsen, Dagmar
DOI: 10.1088/1367-2630/18/5/053005
发表时间: 2016-05-06
期刊: NEW JOURNAL OF PHYSICS
影响因子: 3.3
作者: [Hettler, S., Dries, M., Gerthsen, D.]
通讯作者: Gerthsen, D.
Multislice algorithms revisited: solving the Schrödinger equation numerically for imaging with electrons.
重温多层算法:数值求解薛定谔方程以进行电子成像
DOI: 10.1016/j.ultramic.2014.12.008
发表时间: 2015
期刊: Ultramicroscopy
影响因子: 2.2
作者: [C. Wacker, R.R.Schröder]
通讯作者: R.R.Schröder
Application of Zach Phase Plates for Phase-Contrast Transmission Electron Microscopy: Status and Future Experiments
Zach 相位板在相衬透射电子显微镜中的应用:现状和未来实验
DOI: 10.1017/s1431927614002797
发表时间: 2014
期刊: Microscopy and Microanalysis
影响因子: 2.8
作者: [S. Hettler, J. Wagner, M. Dries, M. Oster, R. R. Schröder, D. Gerthsen]
通讯作者: D. Gerthsen
Phase contrast in transmission electron microscopy based on thin-film phase plates fabricated from metallic glasses
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