Photoelektronenspektrometer mit Kurzpuls-Lasersystem

Unter Nutzung der komplementären expert der Arbeitsgruppen Kipp und Bauer sollen mit dem betragten Instrument Untersuchungen zur elektronischen strukturr and Ultrakurzzeitdynamik in Festkörpern and deren Oberflächen and Grenzflächen in Zusammenhang mit folgenden Themenschwerpunkten durchgefhrt werden：半导体材料中的电子发光微信号，多铁复合材料中的kopplplgprozsi，纳米离子系统中的动态等离子体监测。模具成型系统组件、基础零件、零件、零件、零件、零件、零件、零件、零件等。[导论]三维荧光光谱的检测原理与方法[导论][导论]；[导论]；[导论]；Der hochleistungs - femtosekundlaser PHAROS in combination mit einem NOPA gewährleistet durch seine breitbandige Durchstimmbarkeit bei pulsenerggien bis zu 1 μ J eine hothe光谱Flexibilität sowohl im Rahmen常规装置泵浦-探针光电-实验装置auch zeitaufgelöster zweiphotonen光电-实验。

Unter Nutzung der komplementären Expertisen der Arbeitsgruppen Kipp und Bauer sollen mit dem beantragten Instrument unter Verwendung der zeitaufgelösten Photoemission Untersuchungen zur elektronischen Struktur und Ultrakurzzeitdynamik in Festkörpern und deren Oberflächen und Grenzflächen in Zusammenhang mit folgenden Themenschwerpunkten durchgeführt werden: Elektron-Gitter Wechselwirkung in korrelierten Materialien, Kopplungsprozesse in multiferroischen Kompositen und Dynamik plasmonischer Anregungen in nanoskaligen Systemen. Die beantragten Systemkomponenten basieren zum Teil auf hochaktuellen technischen Neuentwicklungen. Das dreidimensionale Detektionsprinzip des Flugzeitspektrometers THEMIS ermöglicht es, in einer umfassenden Art und Weise die elektronischen Eigenschaften der untersuchten Systeme mit gepulsten Lichtquellen abzufragen. Der Hochleistungs-Femtosekundenlaser PHAROS in Kombination mit einem NOPA gewährleistet durch seine breitbandige Durchstimmbarkeit bei Pulsenergien bis zu 1 µJ eine hohe spektrale Flexibilität sowohl im Rahmen konventioneller Pump-Probe Photoemissions-Experimente als auch zeitaufgelöster Zweiphotonen-Photoemissions-Experimente.