Aging Fault Detection and Failure Prediction Technologies within IoT Edge Devices
Aging Fault Detection and Failure Prediction Technologies within IoT Edge Devices
物联网边缘设备中的老化故障检测和故障预测技术
批准号：
19K20234
负责人：
Wang Senling
金额：
$2.16万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2019
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2019-04-01 至 2023-03-31
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FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST
FF 控制点插入 (FF-CPI) 可克服 POST 多周期测试下故障检测的退化
FF 控制点插入 (FF-CPI) 可克服 POST 多周期测试下故障检测的退化
DOI：
10.1587/transinf.2019edp7235
发表时间：
2020
期刊：
IEICE Transactions on Information and Systems
影响因子：
0.7
作者：
[Al-AWADHI Hanan T., AONO Tomoki, WANG Senling, HIGAMI Yoshinobu, TAKAHASHI Hiroshi, IWATA Hiroyuki, MAEDA Yoichi, MATSUSHIMA Jun]
通讯作者：
MATSUSHIMA Jun
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
测试点插入方法增强多周期测试中的故障检测
测试点插入方法增强多周期测试中的故障检测
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
電子情報通信学会技術研究報告
影响因子：
--
作者：
[青野智己, 中岡典弘, 周 細紅, 王 森レイ, 樋上喜信, 高橋 寛, 岩田浩幸, 前田洋一, 松嶋 潤]
通讯作者：
松嶋 潤
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装
用于基于存储器的逻辑可重构器件 (MRLD) 中退化状态检测的环形振荡器实现
用于基于存储器的逻辑可重构器件 (MRLD) 中退化状态检测的环形振荡器实现
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
作者：
[周 細紅, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛]
通讯作者：
高橋 寛
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断
利用机器学习进行多种故障模型的故障诊断
利用机器学习进行多种故障模型的故障诊断
DOI：
--
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
作者：
[稲元 勉, 樋上 喜信, 濱野郁也，稲元勉，樋上喜信, 山内崇矢，稲元勉，王森レイ，樋上喜信，高橋寛]
通讯作者：
山内崇矢，稲元勉，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
マルチサイクルの機能動作による故障診断能力の向 上について
通过多周期功能运行提高故障诊断能力
通过多周期功能运行提高故障诊断能力
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
[神崎壽伯, 王森レイ, 甲斐博, 高橋寛]
通讯作者：
高橋寛
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