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Aging Fault Detection and Failure Prediction Technologies within IoT Edge Devices
物联网边缘设备中的老化故障检测和故障预测技术
基本信息
- 批准号：19K20234
- 负责人：
- 金额：$ 2.16万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
- 财政年份：2019
- 资助国家：日本
- 起止时间：2019-04-01 至 2023-03-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
项目成果
期刊论文数量（51）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST
FF 控制点插入 (FF-CPI) 可克服 POST 多周期测试下故障检测的退化
- DOI：10.1587/transinf.2019edp7235
- 发表时间：2020
- 期刊：
- 影响因子：0.7
- 作者：Al-AWADHI Hanan T.;AONO Tomoki;WANG Senling;HIGAMI Yoshinobu;TAKAHASHI Hiroshi;IWATA Hiroyuki;MAEDA Yoichi;MATSUSHIMA Jun
- 通讯作者：MATSUSHIMA Jun
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
测试点插入方法增强多周期测试中的故障检测
- DOI：
- 发表时间：2020
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：青野智己;中岡典弘;周 細紅;王 森レイ;樋上喜信;高橋 寛;岩田浩幸;前田洋一;松嶋 潤
- 通讯作者：松嶋 潤
メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装
用于基于存储器的逻辑可重构器件 (MRLD) 中退化状态检测的环形振荡器实现
- DOI：
- 发表时间：2020
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：周 細紅;王 森レイ;樋上 喜信;高橋 寛
- 通讯作者：高橋 寛
機械学習を用いた複数故障モデルの故障診断
利用机器学习进行多种故障模型的故障诊断
- DOI：
- 发表时间：2021
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：稲元 勉;樋上 喜信;濱野郁也，稲元勉，樋上喜信;山内崇矢，稲元勉，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
- 通讯作者：山内崇矢，稲元勉，王森レイ，樋上喜信，高橋寛
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法
利用图神经网络和深度强化学习的逻辑电路测试点选择方法
- DOI：
- 发表时间：2022
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：魏 少奇 ; 塩谷晃平 ; 王 森レイ ; 甲斐 博 ; 樋上喜信 ; 高橋 寛
- 通讯作者：高橋 寛
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Sekiguchi Shoichi
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