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Ultra-reliable power electronics system with built-in power device degradation diagnosis technology

内置功率器件退化诊断技术的超可靠电力电子系统

基本信息

批准号：
20H02134
负责人：
Wada Keiji
金额：
$ 11.4万
依托单位：
Tokyo Metropolitan University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2020
资助国家：
日本
起止时间：
2020-04-01 至 2023-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量（13）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Design of an Integrated Air Coil for Current Sensing

用于电流传感的集成空气线圈的设计

DOI：
10.1109/jestpe.2020.2977102
发表时间：
2020
期刊：
IEEE JOURNAL OF EMERGING AND SELECTED TOPICS IN POWER ELECTRONICS
影响因子：
5.5
作者：
Yoshikazu Kuwabara;Keiji Wada;Jean-Michel Guichon ;Jean-Luc Schanen;James Roudet
通讯作者：
James Roudet

Gate Oxide TDDB Evaluation System for SiC Power Devices under Switching Operation Conditions

用于开关操作条件下 SiC 功率器件的栅极氧化物 TDDB 评估系统

DOI：
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
0
作者：
Shin-Ichiro Hayashi;Keiji Wada
通讯作者：
Keiji Wada

Design a Continuous Switching Test Circuit for Power Devices to Evaluate Reliability

设计功率器件的连续开关测试电路以评估可靠性

DOI：
10.1541/ieejjia.21004267
发表时间：
2022
期刊：
IEEJ Journal of Industry Applications
影响因子：
1.7
作者：
Shin-Ichiro Hayashi;Keiji Wada
通讯作者：
Keiji Wada

Design of Bus Bar Structure in Power Converter Circuit to Obtain Optimized Switching Waveform

功率变换器电路中母线结构的设计以获得优化的开关波形

DOI：
10.1541/ieejias.140.817
发表时间：
2020
期刊：
IEEJ Transactions on Industry Applications
影响因子：
0
作者：
Wang;X.;Wang;D.;He;J.;& Takagi;N.;三井晃司，和田圭二
通讯作者：
三井晃司，和田圭二

Accelerated aging test for gate-oxide degradation in SiC MOSFETs for condition monitoring

用于状态监测的 SiC MOSFET 栅极氧化物退化的加速老化测试

DOI：
10.1016/j.microrel.2020.113777
发表时间：
2020
期刊：
Microelectronics Reliability
影响因子：
1.6
作者：
Shin-Ichiro Hayashi;Keiji Wada
通讯作者：
Keiji Wada

DOI：
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作者：
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Wada Keiji其他文献

Control Method for Overvoltage Suppression Across the DC Capacitor in a Grid-Connection Converter Using Leg Short Circuit of Power mosfets during the Initial Charge

并网变换器首次充电时功率MOSFET桥臂短路抑制直流电容过压的控制方法

DOI：
10.1109/tia.2019.2912800
发表时间：
2019
期刊：
IEEE Transactions on Industry Applications
影响因子：
4.4
作者：
Mannen Tomoyuki;Wada Keiji
通讯作者：
Wada Keiji

核酸構造のトポロジーを基盤とする遺伝子発現の化学的制御非二重らせんの構造と機能に関する新概念

基于核酸结构拓扑的基因表达化学控制关于非双链螺旋结构和功能的新概念

DOI：
发表时间：
2020
期刊：
化学と工業
影响因子：
0
作者：
Itoh Masayuki;Yamashita Mariko;Kaneko Masaki;Okuno Hiroyuki;Abe Manabu;Yamazaki Maya;Natsume Rie;Yamada Daisuke;Kaizuka Toshie;Suwa Reiko;Sakimura Kenji;Sekiguchi Masayuki;Wada Keiji;Hoshino Mikio;Mishina Masayoshi;Hayashi Takashi;高橋俊太郎
通讯作者：
高橋俊太郎

把持と引き上げ動作が可能な空気圧グリッパーの開発

开发能够进行抓取和提升操作的气动夹具

DOI：
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
0
作者：
Mannen Tomoyuki;Wada Keiji;海津祐貴，加古川篤，馬書根
通讯作者：
海津祐貴，加古川篤，馬書根

Investigation of multiple short-circuits characteristics and reliability in SiC power devices used for a start-up method of power converters

用于功率转换器启动方法的 SiC 功率器件的多重短路特性和可靠性研究

DOI：
10.1016/j.microrel.2020.113775
发表时间：
2020
期刊：
Microelectronics Reliability
影响因子：
1.6
作者：
Mannen Tomoyuki;Isobe Takanori;Wada Keiji
通讯作者：
Wada Keiji

Inter-laboratory validation of the WDXRF, EDXRF, ICP-MS, NAA and PGAA analytical techniques and geochemical characterisation of obsidian sources in northeast Hokkaido Island, Japan

日本北海道岛东北部黑曜石源的 WDXRF、EDXRF、ICP-MS、NAA 和 PGAA 分析技术和地球化学表征的实验室间验证

DOI：
10.1016/j.jasrep.2017.11.013
发表时间：
2018
期刊：
Journal of Archaeological Science: Reports
影响因子：
0
作者：
Suda Yoshimitsu;Grebennikov Andrei V.;Kuzmin Yaroslav V.;Glascock Michael D.;Wada Keiji;Ferguson Jeffrey R.;Kim Jong Chan;Popov Vladimir K.;Rasskazov Sergei V.;Yasnygina Tatyana A.;Saito Noriyuki;Takehara Hironobu;Carter Tristan;Kasztovszky Zsolt;Biro Kat
通讯作者：
Biro Kat