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Ultra-reliable power electronics system with built-in power device degradation diagnosis technology

Ultra-reliable power electronics system with built-in power device degradation diagnosis technology
内置功率器件退化诊断技术的超可靠电力电子系统
批准号：
20H02134
负责人：
Wada Keiji
金额：
$11.4万
依托单位：
Tokyo Metropolitan University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2020
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2020-04-01 至 2023-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-20H02134/
关键词：
パワーエレクトロニクスパワーデバイスオンラインモニタリング信頼性SiC-MOSFET状態監視電力変換回路高信頼劣化検出劣化診断

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DOI： 10.1109/jestpe.2020.2977102
发表时间： 2020
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影响因子： 5.5
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作者： [Wang, X., Wang, D., He, J., & Takagi, N., 三井晃司，和田圭二]
通讯作者： 三井晃司，和田圭二
共 11 条
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    • 批准号：
      16H04320
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • 资助金额：
      $10.73万
    • 财政年份：
      2016
    • 负责人：
      Wada Keiji
    • 依托单位：
      Tokyo Metropolitan University
    Development of High-Frequency-Switching Inverter Circuit for High-Speed Motro Drive
    • 批准号：
      25420263
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $3.24万
    • 财政年份：
      2013
    • 负责人：
      Wada Keiji
    • 依托单位：
      Tokyo Metropolitan University
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