Development of surface structure analysis method using Kikuchi pattern

开发使用菊池图案的表面结构分析方法

基本信息

  • 批准号:
    20K05330
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.83万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2020
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2020-04-01 至 2023-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(4)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Structural changes due to reannealing of Ge thin films prepared by solid phase epitaxial growth on Si (111) surface
  • DOI:
    10.1016/j.tsf.2020.138007
  • 发表时间:
    2020-09-01
  • 期刊:
  • 影响因子:
    2.1
  • 作者:
    Ishii, Chiaki;Shigeta, Yukichi
  • 通讯作者:
    Shigeta, Yukichi
Influence of Surface Plasmon on Kikuchi Pattern in RHEED
表面等离子体激元对 RHEED 中菊池图案的影响
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半导体薄膜固相外延中的结晶和再结晶
  • DOI:
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    荒田 昌宏;Rezwan Ahmed;中川 剛志;水野 清義;重田 諭吉
  • 通讯作者:
    重田 諭吉
Influence of Inelastic Scattering Cross-Section on Kikuchi Pattern in RHEED
RHEED 中非弹性散射截面对 Kikuchi 图案的影响
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Yukichi Shigeta;Morio Higuchi and Yuto Hagiwara
  • 通讯作者:
    Morio Higuchi and Yuto Hagiwara
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