Surface passivation and insulated gate structures for nitride-based semiconductor devices using mist-CVD method

使用雾气CVD法的氮化物基半导体器件的表面钝化和绝缘栅结构

基本信息

  • 批准号:
    19K04473
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.75万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    2019
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2019-04-01 至 2022-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

项目成果

期刊论文数量(22)
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专利数量(0)
Mist chemical vapor deposited-Al2O3/AlGaN interfacial characterization for GaN MIS-HEMTs
GaN MIS-HEMT 的雾化学气相沉积-Al2O3/AlGaN 界面表征
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T. Motoyama;Z. Yatabe;Y. Nakamura;A. Baratov;R. S. Low;S. Urano;J. T. Asubar;M. Kuzuhara
  • 通讯作者:
    M. Kuzuhara
Recessed gate GaN-based MIS-HEMTs with Al2O3 gate dielectric deposited by mist-CVD method
采用喷雾 CVD 法沉积 Al2O3 栅介质的凹栅 GaN 基 MIS-HEMT
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    M. Ishiguro;S. Urano;R. S. Low;M. Faris;I. Nagase;A. Baratov;J. T. Asubar;T. Motoyama;Y. Nakamura;Z. Yatabe;M. Kuzuhara
  • 通讯作者:
    M. Kuzuhara
ミストCVD法により作製したAl2O3薄膜とGaN系MIS-HEMTへの応用
雾气CVD法制备Al2O3薄膜及其在GaN基MIS-HEMT中的应用
  • DOI:
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    本山 智洋;Ali Baratov;Rui Shan Low;浦野 駿;中村 有水;葛原 正明;Joel T. Asubar;谷田部 然治
  • 通讯作者:
    谷田部 然治
Mist-CVD法によるAl2O3絶縁膜を用いたAlGaN/GaN MIS-HEMTの電気特性
采用 Mist-CVD 法使用 Al2O3 绝缘膜的 AlGaN/GaN MIS-HEMT 的电特性
  • DOI:
  • 发表时间:
    2020
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    ロー ルイ シャン;永瀬 樹;バラトフ アリ;アスバル ジョエル タクラ;徳田 博邦;葛原 正明;谷田部 然治;内藤 健太;本山 智洋;中村 有水
  • 通讯作者:
    中村 有水
GaN-based MIS-HEMTs with Al2O3 dielectric deposited by low-cost and environmental-friendly mist-CVD technique
采用低成本、环保的雾气 CVD 技术沉积的具有 Al2O3 电介质的 GaN 基 MIS-HEMT
  • DOI:
    10.35848/1882-0786/abe19e
  • 发表时间:
    2021
  • 期刊:
  • 影响因子:
    2.3
  • 作者:
    Rui Shan Low;Joel T. Asubar;Ali Baratov;Shunsuke Kamiya;Itsuki Nagase;Shun Urano;Shinsaku Kawabata;Hirokuni Tokuda;Masaaki Kuzuhara;Yusui Nakamura;Kenta Naito;Tomohiro Motoyama;Zenji Yatabe
  • 通讯作者:
    Zenji Yatabe
{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ patent.updateTime }}

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{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

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  • 资助金额:
    $ 2.75万
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  • 资助金额:
    $ 2.75万
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  • 资助金额:
    $ 2.75万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
{{ showInfoDetail.title }}

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