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Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis
高精度表面界面结构分析X射线反射率法的改进研究
基本信息
- 批准号：18K04938
- 负责人：
- 金额：$ 1.58万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份：2018
- 资助国家：日本
- 起止时间：2018-04-01 至 2021-03-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
项目成果
期刊论文数量（3）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis
高精度表面界面结构分析X射线反射率法的改进研究
- DOI：
- 发表时间：2021
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Hosokawa Saburo;Oshino Yudai;Tanabe Toyokazu;Koga Hiroaki;Beppu Kosuke;Asakura Hiroyuki;Teramura Kentaro;Motohashi Teruki;Okumura Mitsutaka;Tanaka Tsunehiro;Yoshikazu FUJII
- 通讯作者：Yoshikazu FUJII
Derivation of surface roughness correlation function using X-ray reflectivity
使用 X 射线反射率推导表面粗糙度相关函数
- DOI：
- 发表时间：2019
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Hosokawa Saburo;Oshino Yudai;Tanabe Toyokazu;Koga Hiroaki;Beppu Kosuke;Asakura Hiroyuki;Teramura Kentaro;Motohashi Teruki;Okumura Mitsutaka;Tanaka Tsunehiro;Yoshikazu FUJII;Yoshikazu Fujii
- 通讯作者：Yoshikazu Fujii
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