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Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis

Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis
高精度表面界面结构分析X射线反射率法的改进研究
批准号：
18K04938
负责人：
Fujii Yoshikazu
金额：
$1.58万
依托单位：
Kobe University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-04-01 至 2021-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18K04938/
关键词：
表面分析界面分析Ｘ線反射率解析ナノ材料薄膜解析Ｘ線反射率法表面・界面X線反射率法表面界面

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Research on Improvement of X-ray Reflectivity Method for High-Precision Surface-Interface Structure Analysis
高精度表面界面结构分析X射线反射率法的改进研究
DOI： --
发表时间： 2021
期刊： Adv. X-Ray. Chem. Anal., Japan
影响因子： --
作者： [Hosokawa Saburo, Oshino Yudai, Tanabe Toyokazu, Koga Hiroaki, Beppu Kosuke, Asakura Hiroyuki, Teramura Kentaro, Motohashi Teruki, Okumura Mitsutaka, Tanaka Tsunehiro, Yoshikazu FUJII]
通讯作者： Yoshikazu FUJII
Derivation of surface roughness correlation function using X-ray reflectivity
使用 X 射线反射率推导表面粗糙度相关函数
DOI： --
发表时间： 2019
期刊： ALC'19 Proceedings
影响因子： --
作者： [Hosokawa Saburo, Oshino Yudai, Tanabe Toyokazu, Koga Hiroaki, Beppu Kosuke, Asakura Hiroyuki, Teramura Kentaro, Motohashi Teruki, Okumura Mitsutaka, Tanaka Tsunehiro, Yoshikazu FUJII, Yoshikazu Fujii]
通讯作者： Yoshikazu Fujii
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海外基金
基于微电极等微观界面分析构建新型中高温纳米复合质子交换膜
  • 批准号：
    21978260
  • 项目类别：
    面上项目
  • 资助金额：
    66.0万元
  • 批准年份：
    2019
  • 负责人：
    和庆钢
  • 依托单位：
    浙江大学
有机自旋电子学器件的界面分析和界面修饰
  • 批准号：
    11104037
  • 项目类别：
    青年科学基金项目
  • 资助金额：
    30.0万元
  • 批准年份：
    2011
  • 负责人：
    詹义强
  • 依托单位：
    复旦大学
用于材料表面和界面分析的掠出射X射线荧光分析方法