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Study on On-site Recovery of Integrated Circuit Failed by Gamma Ray Irradiation

Study on On-site Recovery of Integrated Circuit Failed by Gamma Ray Irradiation
伽马射线照射失效集成电路现场修复研究
批准号：
18K19040
负责人：
Tanaka Shuji
金额：
$3.99万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
财政年份：
2018
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2018-06-29 至 2020-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-18K19040/
关键词：
γ線ダメージ集積回路マイクロヒータMEMS放射線センサ

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ガンマ線照射ダメージその場回復のためのメンブレン型ヒータ集積化LSI
用于伽马射线损伤现场恢复的膜式加热器集成LSI
DOI： --
发表时间： 2019
期刊：
影响因子： --
作者： [Gong Tianjiao, 鈴木 裕輝夫, 田中 秀治]
通讯作者： 田中 秀治
Temperature Compensation of Silicon MEMS Resonators by Multiple Doping
  • 批准号：
    21K18666
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
  • 资助金额：
    $4.16万
  • 财政年份：
    2021
  • 负责人：
    Tanaka Shuji
  • 依托单位：
    Tohoku University
Stable / Reliable Sensing and Precise Control of Piezoelectric Thin Film Actuators
  • 批准号：
    18H01390
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $11.07万
  • 财政年份：
    2018
  • 负责人：
    Tanaka Shuji
  • 依托单位：
    Tohoku University
Readout Technology of MEMS Sensors Installed in High Temperature Environments
  • 批准号：
    26600056
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
  • 资助金额：
    $2.5万
  • 财政年份：
    2014
  • 负责人：
    Tanaka Shuji
  • 依托单位：
    Tohoku University
Deposition of Ideally-oriented PZT Monocrystalline Thin Film on Si Substrate and Feasibility Study of Its Application to MEMS
  • 批准号：
    25286033
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 资助金额：
    $12.06万
  • 财政年份：
    2013
  • 负责人：
    Tanaka Shuji
  • 依托单位：
    Tohoku University
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