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Development of an apparatus for near-field Raman spectroscopy under transmission electron microscopy toward the degradation analyses of lithium ion battery

Development of an apparatus for near-field Raman spectroscopy under transmission electron microscopy toward the degradation analyses of lithium ion battery
开发用于锂离子电池退化分析的透射电子显微镜近场拉曼光谱仪
批准号：
26600038
负责人：
OHNO YUTAKA
金额：
$2.41万
依托单位：
Tohoku University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2014
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-04-01 至 2016-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-26600038/
关键词：
透過電子顕微鏡内その場分光ラマン分光散乱型近接場光リチウムイオン電池近接場分光透過電子顕微鏡近接場ラマン分光

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Effects of bond distortions on impurity segregation in high-angle grain boundaries in silicon
键畸变对硅中大角度晶界杂质偏析的影响
DOI： --
发表时间： 2015
期刊：
影响因子： --
作者： [Y. Ohno, K. Inoue, M. Deura, K. Kutsukake, I. Yonenaga, N. Ebisawa, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nagai, H. Yoshida, S. Takeda, S. Tanaka, M. Kohyama]
通讯作者： M. Kohyama
Three-dimensional evaluation of segregation ability at grain boundaries in Si by atom probe tomography combined with transmission electron microscopy
原子探针断层扫描结合透射电子显微镜三维评价Si晶界偏析能力
DOI： --
发表时间： 2016
期刊：
影响因子： --
作者： [Y. Ohno, K. Inoue, K. Kutsukake, M. Deura, T. Ohsawa, I. Yonenaga, H. Yoshida, S. Takeda, R. Taniguchi, H. Otsubo, S. R. Nishitani, N. Ebisawa, Y. Shimizu, H. Takamizawa, K. Inoue, Y. Nagai, Y. Ohno]
通讯作者： Y. Ohno
透過電子顕微鏡による半導体欠陥の電子的・動的特性のナノスケール直視評価
使用透射电子显微镜直接纳米级评估半导体缺陷的电子和动态特性
DOI： --
发表时间： 2015
期刊：
影响因子： --
作者： [Y. Ohno, K. Inoue, M. Deura, K. Kutsukake, I. Yonenaga, N. Ebisawa, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nagai, H. Yoshida, S. Takeda, S. Tanaka, M. Kohyama, 大野裕]
通讯作者： 大野裕
Nanoscopic mechanism of Cu precipitation at small-angle tilt boundaries in Si
Si中小角度倾斜边界Cu析出的纳米机制
DOI： 10.1103/physrevb.91.235315
发表时间： 2015
期刊： Physical Reviwe B
影响因子： --
作者： [Y. Ohno, K. Inoue, K. Kutsukake, M. Deura, T. Ohsawa, I. Yonenaga, H. Yoshida, S. Takeda, R. Taniguchi, H. Otsubo, S. R. Nishitani, N. Ebisawa, Y. Shimizu, H. Takamizawa, K. Inoue, Y. Nagai]
通讯作者： Y. Nagai
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