Three-dimensional evaluation of segregation ability at grain boundaries in Si by atom probe tomography combined with transmission electron microscopy
Three-dimensional evaluation of segregation ability at grain boundaries in Si by atom probe tomography combined with transmission electron microscopy
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原子探针断层扫描结合透射电子显微镜三维评价Si晶界偏析能力
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Y. Ohno
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Ohno;K. Inoue;K. Kutsukake;M. Deura;T. Ohsawa;I. Yonenaga;H. Yoshida;S. Takeda;R. Taniguchi;H. Otsubo;S. R. Nishitani;N. Ebisawa;Y. Shimizu;H. Takamizawa;K. Inoue;Y. Nagai;Y. Ohno
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