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Investigation of Hydrogen Bond by Bias Noncontact Atomic Force Microscopy/Spectroscopy

Investigation of Hydrogen Bond by Bias Noncontact Atomic Force Microscopy/Spectroscopy
通过偏压非接触原子力显微镜/光谱研究氢键
批准号：
26600098
负责人：
ARAI Toyoko
金额：
$2.5万
依托单位：
Kanazawa University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份：
2014
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-04-01 至 2016-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-26600098/
关键词：
走査型プローブ顕微鏡水素結合

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チャージアンプを備えたnc-AFMによる表面電子状態解析
使用配备电荷放大器的 nc-AFM 进行表面电子态分析
DOI： --
发表时间： 2016
期刊：
影响因子： --
作者： [野上　真, 新井　豊子, 笹原　亮, 富取　正彦]
通讯作者： 富取　正彦
Dissipation decrease in a proximity region enhanced with a hydrogen-terminated Si tip in non-contact atomic force microscopy
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DOI： --
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影响因子： --
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发表时间： 2014
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作者： [永島一樹, 富取 正彦, 新井 豊子, 野上 真，新井 豊子，笹原 亮，富取 正彦]
通讯作者： 野上 真，新井 豊子，笹原 亮，富取 正彦
共 34 条
    Scanning probe microscopy analysis of the changes in force and electric current with the collapse of tunneling barrier between two bodies at closer separation
    • 批准号：
      24340068
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • 资助金额：
      $12.65万
    • 财政年份：
      2012
    • 负责人：
      ARAI Toyoko
    • 依托单位：
      Kanazawa University
    Atomic force spectroscopy of chemical bonding process with bias voltage tuning between a tip and a sample
    • 批准号：
      20310058
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • 资助金额：
      $11.98万
    • 财政年份：
      2008
    • 负责人：
      ARAI Toyoko
    • 依托单位：
      Kanazawa University
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    海外基金