Reutilization of scan test design for transistor performance degradation diagnosis

重新利用扫描测试设计进行晶体管性能退化诊断

基本信息

  • 批准号:
    21K17723
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 3万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
  • 财政年份:
    2021
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2021-04-01 至 2024-03-31
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

フリップフロップの記憶特性を利用してトランジスタ特性劣化量の推定を行う.昨年の報告の通り,フリップフロップの記憶保持特性の実測結果がシミュレーションの結果とは異なる課題の解決に取り組んでいる.ランダムばらつきの影響が記憶保持特性の実測結果に与える影響を適切に排除できていない可能性があり,ランダムばらつきの影響を除去する方法について検討を行っている.一般的なランダムばらつきの除去には平均化(大数の法則の利用)があるが,記憶保持特性の評価ではその平均値の算出の妥当な定義が必要であり,シミュレーションによるトランジスタ特性劣化量を模擬した環境の中で,妥当な平均化処理の方法について検討を行っている.また研究代表者が所属を変えた結果トランジスタ特性劣化の評価環境の再構築が必要となり,スペースの確保はしたものの電源容量が足りず,測定室の電源工事を実施する手続きを行っている.また既存のLSIテスタでは繰り返し処理の自動化が困難であるため,Robotic Process AutomationとしてAppiumを導入し測定を加速する予定を立てている.一方でフリップフロップの遅延特性をシミュレーションにて評価する環境については構築が進んでおり,評価環境を「キャラクタライザ」と呼ばれるEDAとしてパッケージング化を行うことができた.こちらはトランジスタ特性劣化量診断に限らず広く利用する事が可能であり,オープンソースEDAとして論文誌としてまとめ広報を行い,また複数の機関から利用について問い合わせを受け利用して頂いている.
The estimation of degradation amount of memory characteristics by using the memory characteristics. Last year's report was published, and the results of the measurement of the memory retention characteristics of the software were compared with those of the previous year's report. The influence of memory retention characteristics is measured according to the results of memory retention characteristics. The influence is excluded according to the possibility of memory retention characteristics. The influence of memory retention characteristics is eliminated according to the method of memory retention characteristics. The evaluation of memory retention characteristics is necessary to calculate the appropriate average value. The evaluation of memory retention characteristics is necessary to calculate the appropriate average value. The evaluation of memory retention characteristics is necessary to calculate the appropriate average value. The research representative found it necessary to reconstruct the evaluation environment for the deterioration of the characteristics of the equipment, ensure that the power supply capacity of the equipment is sufficient, and implement the power supply system of the measurement room. The existing LSI technology is difficult to automate and accelerate. A party to the evaluation of the environment, the construction of the environment, the evaluation of the environment. The diagnosis of the deterioration of the characteristics of the plant is limited to the utilization of the plant.

项目成果

期刊论文数量(3)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Library characterizer for open-source VLSI design
用于开源 VLSI 设计的库表征器
  • DOI:
  • 发表时间:
    2022
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    Shinichi Nishizawa;Toru Nakura
  • 通讯作者:
    Toru Nakura
ハードウェア設計のオープンソース化に向けたライブラリキャラクタライザの開発
开发用于开源硬件设计的库表征器
  • DOI:
  • 发表时间:
    2023
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    西澤真一;名倉徹
  • 通讯作者:
    名倉徹
libretto: An Open Cell Timing Characterizer for Open Source VLSI Design
剧本:用于开源 VLSI 设计的 Open Cell 时序表征器
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西澤 真一其他文献

西澤 真一的其他文献

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    $ 3万
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