電圧印加エピタキシャル成長法による分子配向制御法の開発

开发利用电压外延生长法的分子取向控制方法

基本信息

  • 批准号:
    09750017
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.34万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 财政年份:
    1997
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    1997 至 1998
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

優れた機能性を有する有機材料を作製するためには、目的とする分子の配向制御法の開発が必要である。平成9年度においては、KCl単結晶上に櫛形電極を作製し、電圧をかけながら銅フタロシアニン薄膜を成長させた場合、通常のエビタキシャル成長と異なる方向に配向することが、エネルギー分散型全反射X線回折法による測定で分かった。このことより、新規分子配向制御法の開発に対する指針を得た。一方。薄膜の分子配向制御と同様に高次構造の制御も機能性発現には重要な要素である。平成10年度は薄膜の高次構造評価のために、エネルギー分散型X線反射率測定計を新規に開発し、銅フタロシアニン薄膜の形成過程における高次構造の観測を行った。その結果、膜厚10nm付近における薄膜形態の変化が観測され、薄膜形成機構解明に向けた多くの有用な知見を得ることができた。これはエネルギー分散型全反射X線回折法により観測された分子配向変化の結果と一致する。また、白色X線を極低角で鏡面試料に照射した場合、全反射臨界エネルギーより僅かに高いエネルギーのX線が物質の極表面を伝搬するが、この表面伝搬X線の測定をエネルギー分散型X線反射率測定計を用いて測定した。試料にパラフィン薄膜を用いた場合、薄膜の側面から単色性の高い表面伝播X線が出射されることを発見した。表面伝搬X線のエネルギーは薄膜の密度、膜厚によって変化するため、正確にエネルギー分析することにより、薄膜の構造決定が可能と考えられる。
It is necessary to develop molecular alignment control methods for the production of organic materials with excellent functional properties. In 2009, when the electrode was made on the single crystal of KCl, the voltage was changed, and the copper thin film was grown, the direction of growth was different. The new molecular alignment control method was developed. One side. Molecular alignment control and high-order structural control of thin films are important factors for functional development. The development of a new method for the measurement of high-order structures in the formation of thin films in Heisei 10 The results show that the film thickness is close to 10nm, and the film morphology is changed. The film formation mechanism is explained. The results of molecular alignment measurement by the dispersive total reflection X-ray reflection method are consistent. The measurement of X-rays emitted from the polar surface of a substance by white X-rays and extremely low angle specular samples is carried out using a dispersion type X-ray reflectance meter. In the case where the sample is used in the thin film, the bottom surface of the thin film is colored and the high surface transmission X-ray is emitted. Surface X-ray film density, film thickness, thickness,

项目成果

期刊论文数量(8)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Jun Kawai et al.: "Total reflection,X-ray photoelectron spectroscopy of copper phthalocyanine-gold multilayers" Spectrochimica Acta Part B. 52. 873-879 (1997)
Jun Kawai 等:“铜酞菁-金多层膜的全反射、X 射线光电子能谱”Spectrochimica Acta Part B. 52. 873-879 (1997)
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Kouichi Hayashi et al.: "The In-Situ Observation of Organic Thin Films during growth process by Using grazing incidence X-ray diffraction and flvorscerce methods" Advances in X-Ray Analysis. 39. 653-658 (1997)
Kouichi Hayashi 等人:“使用掠入射 X 射线衍射和荧光方法对生长过程中的有机薄膜进行原位观察”X 射线分析进展。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
林 好一 他: "エネルギー分散型X線反射率測定による銅フタロシアニン超薄膜の初期過程の解明" X線分析の進歩. 29. 71-84 (1998)
Koichi Hayashi 等人:“通过能量色散 X 射线反射测量阐明超薄铜酞菁薄膜的初始过程”X 射线分析进展 29. 71-84 (1998)。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
K.Hayashi et al.: "Refracted X-Rays prapigating near the surface under grazig incidora condition" Spectru chimica Acta Part B. 54B. 227-230 (1999)
K.Hayashi 等人:“在放牧条件下靠近表面传播的折射 X 射线”Spectru chimica Acta Part B. 54B。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Jun Kawai et al.: "Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS) in X-ray Fluorescence Spectra" Journal of the Physical Society of Japan. 66. 3337-3340 (1997)
Jun Kawai 等人:“X 射线荧光光谱中的扩展 X 射线吸收精细结构(EXAFS)”日本物理学会杂志。
  • DOI:
  • 发表时间:
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  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    加藤 廉;中嶋 誠二;藤沢 浩訓;木村 耕治;八方 直久;アン アルトニケビンロケロ;加藤 達也;山本 裕太;林 好一
  • 通讯作者:
    林 好一
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  • DOI:
  • 发表时间:
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  • 期刊:
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    0
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  • 发表时间:
    2021
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  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    加藤 廉;中嶋 誠二;藤沢 浩訓;木村 耕治;八方 直久;アン アルトニケビンロケロ;加藤 達也;山本 裕太;林 好一;中嶋誠二
  • 通讯作者:
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知道了