環境半導体鉄シリサイドの気相エピタキシャル成長
環境半導体鉄シリサイドの気相エピタキシャル成長
批准号:
12750011
负责人:
熊谷 義直
金额:
$1.54万
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份:
2000
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2000 至 2001
中文摘要
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英文摘要
光通信に適した波長1.5μmで発光する可能性のある環境半導体材料であるベータ鉄シリサイド(β-FeSi_2)の高品質結晶をシリコン基板上に気相成長することを試みた。昨年度までの熱力学的解析の結果に基づき、鉄およびシリコンの気相原料として、三塩化鉄(FeCl_3)とジクロルシラン(SiH_2Cl_2)用い、これらを水素(H_2)キャリアガスで石英反応管に輸送し、基板温度600-900℃で実験を行った。しかしながらこれまでのところ、デバイス作製に用いることが可能な高品質結晶膜の成長までには至っていない。この原因の一つは均一なβ-FeSi_2の成長が難しいためであると分かった。鉄とシリコンの相図には鉄とシリコンの比によってFe, Fe_3Si, FeSi, β-FeSi_2, Siの5種の固相が存在する。これまでは目的とするβ-FeSi_2がシリコン基板上に選択的に成長するものとしてきたが、実際には成長温度、原料供給分圧、Fe/Si供給比等に依存してこれら5種の固相が混在して成長することがわかった。そこで新たに上記の5種の固相の析出反応および副反応を考慮し、現在、熱力学解析との協調研究によりβ-FeSi_2の高品質結晶が選択的に成長可能な最適条件を検討している。
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科研奖励(0)
会议论文
Y.Kumagai: "Comparison of GaN buffer layers Grown on GaAs (III)A and (III)B surfaces"Physica Status Solidi (a). 188・2. 549-552 (2001)
Y. Kumagai:“GaAs (III)A 和 (III)B 表面上生长的 GaN 缓冲层的比较”Physica Status Solidi (a) 549-552 (2001)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
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作者:
[]
通讯作者:
その場重量測定による窒化アルミニウム基板表面反応メカニズムの解明
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批准号:17760007
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.18万
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财政年份:2005
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负责人:熊谷 義直
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依托单位:
海外基金