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確率分布の主要点に関する研究

概率分布要点研究

基本信息

批准号：
12780176
负责人：
山本渉
金额：
$ 0.32万
依托单位：
The University of Electro-Communications
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
财政年份：
2000
资助国家：
日本
起止时间：
2000 至 2001
项目状态：
已结题

来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-12780176/
关键词：
確率分布の代表点クラスタリングパターン解析 Principal Points

项目摘要

本年度は、昨年度に引き続き多次元分布のPrincipal Pointsに関する研究を進めると共に、特に半導体製造工程に関して、データ解析への応用に目を向けていろいろと解析を試みた。半導体製造工程は通常数十もの工程を複雑に組み合わせて構成されており、途中でLSIの検査ができない上に製造条件が異なる製品がため、製造途中製品の予想が問題となっている。今年度はその問題に取り組み、下記の成果を挙げた。・実際の半導体製造工程のデータの解析にPrincipal Pointsを応用した。各工程からの変数を工程単位でPrincipal Pointsを求めて離散化することで、データを圧縮し、要因解析を実現した。・半導体ウェハー上の不良LSIの発生パターンは単純ではなく、製造条件によっても、製品によっても、不良の発生位置と不良数のばらつきが大きい。そこで半導体ウェハー上の不良パターンをPrincipal Pointsを用いて分類し、不良LSIの発生パターンに関する確率モデルの導出のための検討を行った。またPrincipal Pointsとは基準が異なる、別の確率分布の代表点についても研究を進めた。Principal Pointsが確率分布の最適近似という意味の分割を与えるのに対して、この代表点は確率分布を離散近似するときに、母数の推定分散を最小にするような分割を与える点の組として定義される。こちらについては、既にワイブル分布について検討した結果を論文にまとめて投稿済みである。両者の関係については、今後の研究課題として、研究を進めていく。

This year's and last year's multi-dimensional distribution of the principal Points: に关する Research を Advance めると公に, 特に Semiconductor Manufacturing Engineering に关して, データANALYSIS への応用に目を向けていろいろとANALYSIS をtrial みた. Semiconductor manufacturing process is usually composed of dozens of processes, complex combinations, and LSI on the way. Check the manufacturing conditions of the products and the problems of the products in the process of manufacturing. This year's questions were collected and grouped, and the results are listed below.・Principal Points Analysis of Semiconductor Manufacturing Engineering Each project's numerical value, project unit's Principal Points, discretization, and factor analysis are all discretized.・Defective LSI on Semiconductor System and Manufacturing Conditionsによっても, product によっても, defective location and defective number のばらつきが大きい. Principal of the semiconductor company Points are categorized by classification, and the bad LSI is classified and the accuracy is correct and the accuracy is derived.またPrincipal PointsとはBenchmarkがdifferentなる、Principal PointsのRepresentative Points of Different Accuracy DistributionについてもResearchをEnterめた. Principal PointsがThe best approximation of the accuracy distribution means the segmentation and the accuracy distribution of representative pointsをDiscrete approximation するときに, mother number のestimation dispersion をminimum にするようなdivided を and えるpoint のgroup として definition される.こちらについては、にワイブル Distribution について検 Discussion した Results をThesis にまとめてContributed by 済みである. The relationship between the two is the same, the future research topic is the future research topic, and the research progress is the future.