キャピラリーグロー放電発光分析による水素吸蔵材料中の水素の3次元分布解析

毛细管辉光放电发射光谱法分析储氢材料中氢的三维分布

基本信息

  • 批准号:
    15656176
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 2.24万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Exploratory Research
  • 财政年份:
    2003
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2003 至 2004
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

グリム型グロー放電管を試作し、今回の科研費により高圧電源、ガス配管、真空計などを購入した。現有の分光器を取り付け、グロー放電プラズマを励起源とする発光分析が可能となった。さらに、リング状の放電管も試作し、この放電管に高電圧を印加させることにより、X線源としての可能性も探った。(1)アルゴン-水素グロー放電を励起源とする発光分析通常は発光源としてのグロー放電プラズマにはアルゴンガスが使用される。この場合、カソード(試料)表面では物理的なスパッタリング現象が生じている。一方、水素を添加することにより水素による化学的なスパッタリング(エッチング)が生じることが知られている。そこで、鉄鋼中の炭素の分析に注目してアルゴン-水素グロー放電の発光分析を試みた。ガス圧、ガスの混合比、印加電圧など、様々な条件を変えながら最適な条件を探った。ある条件では炭素の原子線よりも分析条件の良い場合があることが分かった。(2)リング状グロー放電管の試作従来のグロー放電管は平行・平板の電極からなる放電管であったり、グリム型と呼ばれる平板・中空陽極からなる放電管であった。今回、リング状のグロー放電管を試作することに成功した。さらに、グロー放電プラズマにおける高速電子を電子源として利用することによりリング状のX線管へと改良することを計画している。実際、数kV程度であれば、安定な放電が得られ、X線の発生も確認できた。今後、さらに高電圧を印加した際の放電の安定性を高めていく改良が必要である。
The research cost of high-voltage power supply, pipeline and vacuum meter is currently being purchased. The existing spectrometers can be used for optical analysis of excitation sources. The possibility of X-ray source detection is discussed in detail. (1)The light source analysis is usually used to analyze the light source. In this case, the surface of the sample (sample) is opposite to the physical surface. A square, water element added, water element added The analysis of carbon in iron and steel is focused on the optical analysis of water element. Change the pressure, mixture ratio, Inca voltage, and sample conditions to find the most suitable conditions. The condition of carbon atom is good for analysis. (2)The electrode of the parallel plate is parallel to the electrode of the hollow anode. This time, we have successfully tried out a real-time management program. A high-speed electron source is used to improve X-ray tube performance. In fact, several kV level is not stable, the state is stable, X-ray generation is confirmed. In the future, the stability of the country will be improved due to high voltage.

项目成果

期刊论文数量(23)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Z.Spolnik, K.Tsuji, etc.: "Quantitative analysis of metallic ultra-thin films by grazing-exit electron probe x-ray microanalysis"X-Ray Spectrometry. 31. 178-183 (2002)
Z.Spolnik、K.Tsuji等:“通过掠射电子探针X射线微量分析对金属超薄膜进行定量分析”X射线光谱法。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Micro-XRF Instrument Developed in Combination with Atomic Force Microscope
与原子力显微镜结合开发的微型 XRF 仪器
  • DOI:
  • 发表时间:
    2005
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    K.Tsuji;T.Emote;Y.Matsuoka;Y.Miyatake;T.Nagamura X.Ding
  • 通讯作者:
    T.Nagamura X.Ding
Z.Spolnik, K.Tsuji, etc.: "Grazing-exit electron probe x-ray microanalysis of ultra-thin films and single particles"Anal. Chim. Acta. 455. 245-252 (2002)
Z.Spolnik、K.Tsuji等:“超薄膜和单颗粒的掠射电子探针X射线显微分析”。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
Characterization of X-rays emerging from between reflector and sample carrier in reflector-assisted TXRF analysis.
反射器辅助 TXRF 分析中反射器和样品载体之间出现的 X 射线的表征。
  • DOI:
  • 发表时间:
    2005
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    T.Tetsuoka;T.Nagamura
  • 通讯作者:
    T.Nagamura
J.Injuk, K.Tsuji, etc.: "Airborne particles in the Miyagi Museum of Art in Sendai, Japan, Studied by Electron Probe X-Ray Microanalysis"Anal. Sci.. 18. 561-566 (2002)
J.Injuk、K.Tsuji等:《日本仙台宫城美术馆的空气中粒子,通过电子探针X射线显微分析进行研究》分析。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ patent.updateTime }}

辻 幸一其他文献

ポリキャピラリーX線レンズの特性評価
多毛细管 X 射线透镜的表征
  • DOI:
  • 发表时间:
    2006
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    田中 啓太;堤本 薫;荒井 正浩;辻 幸一
  • 通讯作者:
    辻 幸一
蛍光X線分析の実際(「斜出射蛍光X線分析」(分担執筆))
荧光X射线分析的实践(《斜发射荧光X射线分析》(合著者))
  • DOI:
  • 发表时间:
    2005
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    A.Okhrimovskyy;K.Tsuji;辻 幸一;辻 幸一
  • 通讯作者:
    辻 幸一
微小部蛍光X線分析のための複合型X線集光素子の試作
用于显微 X 射线荧光分析的复合 X 射线聚焦元件原型
  • DOI:
  • 发表时间:
    2008
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    中野 和彦;松田 晃典;駒谷慎太郎;大澤 澄人;坂東 篤;内原 博;辻 幸一
  • 通讯作者:
    辻 幸一
天然高分子を用いた蛍光X線分析法のための環境水試料の高度濃縮法の検討
天然聚合物X射线荧光分析环境水样先进富集方法研究
  • DOI:
  • 发表时间:
    2008
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    中野 和彦;大久保 健太;辻 幸一
  • 通讯作者:
    辻 幸一
SEMを用いたCu微細配線結晶性評価技術
使用SEM的Cu精细互连结晶度评估技术
  • DOI:
  • 发表时间:
    2008
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
    廣瀬 幸範;工藤 修一;村中誠志;清水 健一;辻 幸一
  • 通讯作者:
    辻 幸一

辻 幸一的其他文献

{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

{{ truncateString('辻 幸一', 18)}}的其他基金

新規蛍光X線元素イメージング法の開発と電気化学反応のオペランド解析
新型荧光X射线元素成像方法的开发和电化学反应的操作分析
  • 批准号:
    23K23376
  • 财政年份:
    2024
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Development of new XRF imaging for operando analysis of electrochemical reactions
开发用于电化学反应操作分析的新型 XRF 成像
  • 批准号:
    22H02108
  • 财政年份:
    2022
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
ナノテクノロジーと超微量分析のための新しいグロー放電デバイスの設計と開発
用于纳米技术和超痕量分析的新型辉光放电装置的设计和开发
  • 批准号:
    04F04126
  • 财政年份:
    2004
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
斜入射X線照射下-プラズマプロセスの可視・紫外・X線分光によるその場解析
使用可见光、紫外和 X 射线光谱对斜入射 X 射线照射下的等离子体过程进行原位分析
  • 批准号:
    09750805
  • 财政年份:
    1997
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
斜入射・斜出射蛍光X線分析法による化学気相成長プロセスのその場測定
使用掠入射和掠发射 X 射线荧光光谱法对化学气相沉积过程进行原位测量
  • 批准号:
    06650035
  • 财政年份:
    1994
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
蛍光X線強度の取り出し角分布測定による金属薄膜ならびに基板界面の非破壊分析
通过测量荧光X射线强度的提取角分布对金属薄膜和基底界面进行无损分析
  • 批准号:
    05750021
  • 财政年份:
    1993
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)

相似海外基金

軟X線吸収分光法を用いた水素雰囲気下での水素吸蔵合金表面の研究
氢气氛下储氢合金表面的软X射线吸收光谱研究
  • 批准号:
    24K08260
  • 财政年份:
    2024
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
実用水素貯蔵タンク開発のための水素吸蔵合金の熱物性モデル
用于开发实用储氢罐的储氢合金热物理模型
  • 批准号:
    24K08327
  • 财政年份:
    2024
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
水素吸蔵合金の表面被毒挙動の解明による不純物ガス耐性の向上
通过阐明储氢合金的表面中毒行为来提高抗杂质气体能力
  • 批准号:
    23K19190
  • 财政年份:
    2023
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Research Activity Start-up
形状自在な水素吸蔵合金ペーパーを用いたソフトアクチュエータの探索融合研究
可成型吸氢合金纸软执行器的探索性综合研究
  • 批准号:
    22K19812
  • 财政年份:
    2022
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)
ニッケル基水素吸蔵合金を利用したパラジウム代替触媒の開発
镍基储氢合金钯替代催化剂的开发
  • 批准号:
    21J10161
  • 财政年份:
    2021
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
高性能水素吸蔵合金を用いた質量分析装置内の水素除去に関する研究
高性能储氢合金质谱仪除氢研究
  • 批准号:
    21K03700
  • 财政年份:
    2021
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
水素吸蔵合金充填層における応力発現解析モデルの開発と合金タンク設計最適化への応用
储氢合金填充床应力表达分析模型的建立及其在合金储罐设计优化中的应用
  • 批准号:
    13J06639
  • 财政年份:
    2013
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
水素吸蔵合金へプラズマ入射させた過飽和水素に対する超音波定在波の内部拡散制御
储氢合金过饱和氢等离子体注入超声驻波的内部扩散控制
  • 批准号:
    25630267
  • 财政年份:
    2013
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
水素雰囲気中における燃焼合成法による水素吸蔵合金の製造
氢气氛燃烧合成法生产储氢合金
  • 批准号:
    11J03412
  • 财政年份:
    2011
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for JSPS Fellows
水素吸蔵合金アクチュエータを用いた地熱利用技術の開発
储氢合金致动器地热利用技术开发
  • 批准号:
    21656228
  • 财政年份:
    2009
  • 资助金额:
    $ 2.24万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
{{ showInfoDetail.title }}

作者:{{ showInfoDetail.author }}

知道了