Micromechanics of surface deformation by Nanoindentation

纳米压痕表面变形的微观力学

• 批准号: 10450269
• 负责人: TANAKA Kohichi
• 金额: $ 7.55万
• 依托单位: Nagaoka University of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 1998
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1998 至 2000
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-10450269/
• 关键词: Nanoindentation; Indent; contact depth; contact area; Young's modulus; Poisson's ratio; P-h curve; elasticity; インデンテーション試験; SEMプロファイル; 除荷曲線; ヴィッカース圧子; 薄膜; 表面; 硬度; 連続転位; 三角圧子; ガラス

Indentation tests are conducted by using a continuous load-depth sensing system which is installed on a conventional Vickers indent or Bercovich indent. The justification of the procedure for determining hardness using load and displacement sensing indentation experiments may not be obtained from the analytical solutions based on the elastic spherical cavity model. In this study, we assume the indentation plasticity as prismatic dislocation loops with Burgers vectors in the direction normal to the contact surface. we estimate the configuration of the induced plastic core zone and the yield stress of the material by solving an inverse problem in terms of both the load-displacement curves during unloading and topographic data of the residual contact impression. We predicted the yield stress and plastic core zone. The analysis also determined the geometrical parameters.

压痕试验是通过使用连续载荷深度传感系统进行的，该系统安装在传统的维氏硬度计或Bercovich硬度计上。使用载荷和位移传感压痕实验确定硬度的程序的合理性可能无法从基于弹性球腔模型的解析解中获得。在这项研究中，我们假设的压痕塑性棱柱位错环与伯格斯矢量在垂直于接触面的方向。我们估计的诱导塑性核心区的配置和材料的屈服应力，通过求解一个逆问题，在卸载过程中的载荷-位移曲线和地形数据的残余接触压痕。预测了屈服应力和塑性核心区。分析还确定了几何参数。

项目成果

A continuum dislocation model of Vickers indentation on a zirconia

氧化锆上维氏压痕的连续体位错模型

• 发表时间: 1999
• 期刊: Acta Materialia 47
• 作者: K.Tanaka;M.Kanari;N.Matsui
• 通讯作者: N.Matsui

Nanoindentation of natural diamond

• DOI: 10.1080/01418610208235696
• 发表时间: 2002-07
• 期刊: Philosophical Magazine A
• 作者: Takeshi Sawa;Kohichi Tanaka

Surface degradation of glass measured by nanoindentation

通过纳米压痕测量玻璃的表面降解

• 发表时间: 2002
• 期刊: Philosophical Magazine A 82
• 作者: T.Sawa;K.Tanaka
• 通讯作者: K.Tanaka

Nanoindentation of a 10 nm thick thin film

• DOI: 10.1557/jmr.1999.0299
• 发表时间: 1999-06-01
• 期刊: JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH
• 影响因子: 2.7
• 作者: Sawa, T;Akiyama, Y;Tanaka, K
• 通讯作者: Tanaka, K

T.Sawa,Y.Akiyama,A.Shimamoto and K.Tanaka: "Nanoindentation of a 10 nm thick thin film" Journal of Material Research. (印刷中).

T. Sawa、Y. Akiyama、A. Shimamoto 和 K. Tanaka：“10 nm 厚薄膜的纳米压痕”《材料研究杂志》（正在出版）。