DEVELOPMENT OF GRAZING-EXIT MICRO X-RAY FLUORESCENCE INSTRUMENT AND SINGLE PARTICLE ANALYSIS SUCH AS AEROSOLS
放牧口微型X射线荧光仪及气溶胶等单颗粒分析的研制
基本信息
- 批准号:12554030
- 负责人:
- 金额:$ 8.77万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
- 财政年份:2000
- 资助国家:日本
- 起止时间:2000 至 2002
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
We have studied EPMA under grazing-exit conditions, which is called GE-EPMA. We developed a GE-EPMA apparatus based on a commericial EPMA. We evaluated the analytical characterization of GE-EPMA. It was foue analysis and single-particle analysis are possible by GE-EPMA with extremely low background. By analyzing exit-angle dependence of EPMA intensity, we can evaluate thickness and density of him films. The advantage of GE-EPMA is the use of an electron beam with a small diameter at an incident angle of 90 degrees, which makes it possible to perform localized analysis. Element mapping is possible by scanning the electron beam or the sample stage. In addition, depth analysis is possible by varying the exit angle, which could finally result in 3-dimensional EPMA
我们研究了放牧退出条件下的EPMA,称为GE-EPMA。我们在商用EPMA的基础上开发了GE-EPMA装置。我们评估了GE-EPMA的分析表征。在极低的背景下,GE-EPMA可以进行图像分析和单粒子分析。通过分析EPMA强度与出口角的关系,可以对薄膜的厚度和密度进行评价。GE-EPMA的优点是使用直径较小的电子束,入射角度为90度,这使得进行局部分析成为可能。可以通过扫描电子束或样品台来绘制元素图。此外,可以通过改变出口角度进行深度分析,最终得到三维EPMA
项目成果
期刊论文数量(64)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
K. Tsuji, K. Wagatsuma: "Enhancement of TXRF Intensity by Using a Reflector"X-Ray Spectrom. 31. 358-362 (2002)
K. Tsuji、K. Wagatsuma:“使用反射器增强 TXRF 强度”X 射线光谱。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
K.Tsuji et al.: "Continuous X-ray background in grazing-exit electron probe X-ray microanalysis"Spectrochim. Acta B. 56. 2497-2504 (2001)
K.Tsuji 等人:“掠射电子探针 X 射线微量分析中的连续 X 射线背景”Spectrochim。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
Z. Solnik, K. Tsuji, etc: "Quantitative analysis of metallic ultra-thin films by grazing-exit electron probe x-ray microanalysis"X-Ray Spectrometry. 31. 178-183 (2002)
Z. Solnik,K. Tsuji等:“通过掠射电子探针X射线微量分析对金属超薄膜进行定量分析”X射线光谱法。
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
K.Tsuji et al.: "New experimental equipment for grazing-exit electron probe microanalysis"Rev. Sci. Lustrum. 72. 3933-3936 (2001)
K.Tsuji 等:“掠射电子探针微量分析的新实验设备”Rev.
- DOI:
- 发表时间:
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
- 通讯作者:
Z.Spolnik, K.Tsuji, etc.: "Quantitative analysis of metallic ultra-thin films by grazing-exit electron probe x-ray microanalysis"X-Ray Spectrometry. 31. 178-183 (2002)
Z.Spolnik、K.Tsuji等:“通过掠射电子探针X射线微量分析对金属超薄膜进行定量分析”X射线光谱法。
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{{ truncateString('TSUJI Kouichi', 18)}}的其他基金
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26288069 - 财政年份:2014
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