走査型トンネル顕微鏡におけるスピン偏極トンネル現象に関する研究

扫描隧道显微镜中自旋偏振隧道现象的研究

• 批准号: 05245201
• 负责人: 武笠 幸一
• 金额: $ 1.6万
• 依托单位: Hokkaido University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1993
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1993 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-05245201/
• 关键词: スピン偏極度; STM; トンネル現象; GaAs

(1)大気中STMで、GaAsエピタキシャル薄膜試料およびNi探針の系においてトンネル電流が、GaAs伝導帯中に光励起された電子のスピン偏極度およびNi探針の磁化に依存することを検証した。これは汎用的SP-STMが可能であることを示し、原子分解能で磁性体試料のスピン偏極度が測定可能ということである。現在、表面の不安定性を除くために、超高真空STMに実験を移すことを始めている。(K.Sueoka et al:Japan.J.Appl.Phys.,32(6-B),2989(1993))(2)スピン偏極度を同定した半導体探針を用いることを考え、探針より電界放射により電子を引き出し、スピン偏極度をモット・スピン分析器で測定することにし、40KVの球状加速電界型モットスピン分析器について電子軌道シミュレーション、設計、作製を行い、現在測定が出来るようになった。(佐々木 誠他:日本応用磁気学会投稿中)(3)絶縁物試料に対してはSTMが適用できない。試料表面スピン、探針スピン間に働く力をAFMで検出することを考えた(交換力顕微鏡:EFM)。遷移金属同志の交換力を理論的に検討し、10^<-10>Nのオーダにあることが分かり、これはAFMの測定範囲内にあることになる。(K.Mukasa et al:Japan.J.Appl.Phys.投稿中)

(1) large 気 STM で, GaAs エ ピ タ キ シ ャ ル film sample お よ び Ni probe の is に お い て ト ン ネ ル current が, GaAs 伝 guide 帯 に excitation light up さ れ た electronic の ス ピ ン partial extreme お よ び Ni probe の magnetization に dependent す る こ と を 検 card し た. こ れ は domestic SP - STM が may で あ る こ と を し, atomic decomposition can で magnetic body sample の ス ピ ン partial extreme が determination may と い う こ と で あ る. Now, the surface <s:1> instability を is divided by くために, and the ultra-high vacuum STMに experiment を shifts to す めて とを とを to めて る る. (K.Sueoka et Al: Japan. J.A PPL. Phys., 32 (6 - B), 2989 (1993)), (2) ス ピ ン with fixed partial extreme を し た を semiconductor probe with い る こ と を え test, probe よ り electricity industry radiation に よ り electronic を lead き し, ス ピ ン partial extreme を モ ッ ト · ス ピ ン analyzer で determination す る こ と に し, 40 kv の ball speed type electric industry モ ッ ト ス ピ ン analyzer に つ い て electron orbital シ ミ ュ レ ー シ ョ ン, design, make line を い, determination of が now る よ う に な っ た. (Sato 々 Makoto: In the process of submission to the Japan 応 Society for the Use of Magnetism)(3) the absolute green material に is applicable to the で で な な て STMが. Sample surface ス ピ ン, probe ス ピ ン between に 働 く force を AFM で 検 out す る こ と を exam え た (exchange force 顕 micro mirror: EFM). The theory of migration metal comrade の exchange force を に beg し 検, 10 ^ < - > 10 N の オ ー ダ に あ る こ と が points か り, こ れ は AFM の determination within van 囲 に あ る こ と に な る. (K.Mukasa et al:Japan.J.Appl.Phys. Submission in progress

项目成果

K.Sueoka: "The Possibility of Observing Spin-Polarized Tunneling Current Using Scanning Tunneling Microscope with on Optically Pumped GaAs" Japan.J.Appl.Phys.32. 2989-2993 (1993)

K.Sueoka：“使用扫描隧道显微镜和光泵浦 GaAs 观察自旋极化隧道电流的可能性”Japan.J.Appl.Phys.32。

T.Hasegawa: "Frontiers of High Energy Spin Physics" Universal Academy Press.Inc., 950 (1993)

T.Hasekawa：“高能自旋物理学的前沿”Universal Academy Press.Inc.，950 (1993)