走査型トンネル顕微鏡におけるスピン偏極トンネル現象に関する研究

扫描隧道显微镜中自旋偏振隧道现象的研究

• 批准号: 07225201
• 负责人: 武笠 幸一
• 金额: $ 1.02万
• 依托单位: Hokkaido University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
• 财政年份: 1995
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1995 至 无数据
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-07225201/
• 关键词: スピン偏極; STM; SP-STM; 交換相互作用; 交換力顕微鏡; トンネル現象

走査プローブ顕微鏡(SPM)を開発し、これによりトンネル現象を解明することを目的としている。1.スピン偏極STM(SP-STM)については、GaAs、Niの組み合せで探針および試料のスピン偏極度に依存するトンネル電流が検出された。2.超高真空STM(HUV STM)をスピン偏極測定用に開発し、SNが非常に良くなり、STSが観測できた。エネルギーバンド構造ならびにスピン偏極のバイアス依存性が測定され、遷移金属のエネルギー構造との関係が解析された。3.SP-STMの探針のスピン偏極を予め把握しておく必要性から、モット・スピン検出器を開発した。量子井戸構造をMBEで作製し、FIB(集束イオンビーム)で探針状に加工し、モット・スピン検出器によりスピン偏極度を計測することにする。4.SPMの他の1つとして本研究グループが考えたのは、探針および試料スピン間に働く交換相互作用を計測する交換力顕微鏡(EFM)を考え、理論的検討を行った。井戸型ポテンシヤルの簡単なモデル計測を行い、AFMで計測可能な範囲内にあることが分かった。5.EFMの実験的検出を行うための実験パラメータを厳密に知ることを目的に、第1原理よりの密度汎関数法を用いて、3原子層および5原子層の探針あるいは試料のモデルについて計算を行った。探針、試料がスピンアップ、スピンアップの系について計算値が出された。

To investigate the development of micromirrors (SPM) and to clarify the purpose of these phenomena. 1. The polarization STM(SP-STM) is a combination of GaAs, Ni, probe contact and sample polarization dependent current detection. 2. Ultra-high vacuum STM(HUV STM) is used for polarization measurement, SN is very good, STS is used for polarization measurement. The relationship between the structure and migration of metals was analyzed. 3.SP-STM probe polarization control is necessary to control the detection device. Quantum well structure MBE fabrication, FIB(cluster information processing), probe-like processing, detection, and measurement. 4. SPM and other research methods are discussed in this paper. The interaction between SPM and sample is measured by EFM. Well type measurement is simple, AFM measurement is possible within the range of measurement. 5. EFM's implementation of the detection process, the implementation of the detection process, the purpose of the first principle of the density function method, the application of the 3 atomic layer to the 5 atomic layer probe, the calculation of the sample The probe, sample, and system are calculated.

项目成果

Y. Umehara, Y. Ogiso, K. Chihra and K. Mukasa: "Method for evaluting sharpness of tip apex of a cantilever for the atomic force microscope." Rev. Sci. Instrum.66(1). 269-270 (1995)

Y. Umehara、Y. Ogiso、K. Chihra 和 K. Mukasa：“原子力显微镜悬臂梁尖端锐度评估方法”。

末岡和久、有澤幸恭、迫陽一、武笠幸一、早川和延: "スピン偏極トンネル分光による表面磁性の研究" 電子情報通信学会技報. CPM95-40. 25-30 (1995)

Kazuhisa Sueoka、Yukiyasu Arisawa、Yoichi Sako、Koichi Mukasa、Kazunobu Hayakawa：“通过自旋极化隧道光谱研究表面磁性”IEICE 技术报告 25-30 (1995)。

K.Mukasa, K.Sueoka, H.Hasegawa, Y.Taduke, H.Hayakawa: "Spin-Polarized STM and its Family" Materials Science & Engineering. B31. 69-76 (1995)

K.Mukasa、K.Sueoka、H.Hasekawa、Y.Taduke、H.Hayakawa：“自旋偏振 STM 及其家族”材料科学

K.Mukasa, K.Sueoka, H.Hasegawa, Y.Taduke, H.Hayakawa: "Spin-Polarized Scanning Tunneling Microscopy and its Family" Optoelectronics-Devices and Technologies. 10. 259-268 (1995)

K.Mukasa、K.Sueoka、H.Hasekawa、Y.Taduke、H.Hayakawa：“自旋偏振扫描隧道显微镜及其系列”光电器件和技术。

佐々木泰、亀井孝明、吉本智巳、岩田達夫、鈴木和郎、末岡和久、武笠幸一: "集束イオンビームを用いた探針加工の研究" 真空. 38(3). 401-403 (1995)

Yasushi Sasaki、Takaaki Kamei、Tomomi Yoshimoto、Tatsuo Iwata、Kazuo Suzuki、Kazuhisa Sueoka、Koichi Mukasa：“使用聚焦离子束进行探针处理的研究”38(3) (1995)。