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Studies on instruction-level self-degradation detection mechanism and automated test program generation for processors

Studies on instruction-level self-degradation detection mechanism and automated test program generation for processors
处理器指令级自退化检测机制及自动化测试程序生成研究
批准号：
23K11035
负责人：
大竹 哲史
金额：
$3.08万
依托单位：
Oita University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
财政年份：
2023
资助国家：
日本
项目状态：
未结题
起止时间：
2023-04-01 至 2026-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-23K11035/
关键词：
劣化検知プロセッサテスト命令レベルテストテストプログラム生成

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Studies on Reliability Enhancement of Reconfigurable Integrated Circuits in the IoT Era
  • 批准号：
    18K11220
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
  • 资助金额：
    $2.75万
  • 财政年份：
    2018
  • 负责人：
    大竹 哲史
  • 依托单位：
    Oita University
大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究
  • 批准号：
    17700062
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
  • 资助金额：
    $2.24万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    大竹 哲史
  • 依托单位：
    Nara Institute of Science and Technology
大規模・高性能VLSIの遅延故障に対するテスト容易化設計に関する研究
  • 批准号：
    12780226
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
  • 资助金额：
    $1.6万
  • 财政年份：
    2000
  • 负责人：
    大竹 哲史
  • 依托单位：
    Nara Institute of Science and Technology
テスト容易性を考慮した高位合成に関する研究